[实用新型]一种适用于IGBT动态测试的电路

说明书

本实用新型公开了一种适用于IGBT动态测试的电路，待测件DUT包括第一晶体管Q4和第二晶体管Q5，高压电源P1的正极接开关K2的一端，开关K2的另一端接开关K3的一端，开关K3的另一端接高压电源P1的负极，电感L1的一端、电感L2的一端、电感L3的一端以及电感L4的一端连接在一起并接到开关K2的另一端上；电感L1的另一端接开关K4的一端，电感L2的另一端接开关K5的一端，电感L3的另一端接开关K6的一端，电感L4的另一端接开关K7的一端，开关K4的另一端、开关K5的另一端、开关K6的另一端以及开关K7的另一端均连接到一起并接到开关K8的一端上。本实用新型的优点在于：能够实现第2类短路测试。

技术领域

本实用新型涉及IGBT动态测试领域，更具体涉及一种适用于IGBT动态测试的电路。

背景技术

，IGBT的双脉冲实验和短路实验一般都会在一个阶段进行，但是有的时候短路测试会被忽略，原因有些时候会直接对装置直接实施短路测试，但是此时实际上并不是彻底和充分的。常见的情况有：①没有进行IGBT短路实验。②进行了短路测试，但是测试时候的判断标准较简单，对IGBT的短路行为没有进行较为仔细的观察和考证。这样做可能会导致后期装置出现由于IGBT短路相关导致的故障时，排查和处理起来较为麻烦，所以在使用起初，认真地对IGBT进行短路测试是非常必要。

IGBT的短路测试分为两种，即第1类短路测试和第2类短路测试，第1类短路，一般为桥臂直通导致的，硬件或软件失效造成的，此时短路回路中的电感量很小(100nH)，一般会采用VCE(sat)检测来实现短路保护。第2类短路，一般为相间短路或者是相对地短路，此时短路回路中的电感较大(uH级别)，可以使用VCE(sat)检测或是使用霍尔检测电流变化来实现短路保护，这类短路中的电感量是不确定的

现有的IGBT动态测试装置中，可以实现的短路测试功能是指第1类短路测试，即桥臂内短路；但是按照国际电工标准IEC60747-9中的规定，IGBT的短路有两种工况，对于第2类短路的测试(即桥臂间短路)，现有的测试电路不具备该测试功能。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题在于如何提供一种能够进行第2类短路测试的适用于IGBT动态测试的电路。

本实用新型通过以下技术手段实现解决上述技术问题的：一种适用于IGBT动态测试的电路，包括高压电源P1、顺序编号的开关K2至开关K11、晶闸管Q2、晶闸管Q3、电感L1、电感L2、电感L3以及电感L4，所述待测件DUT包括第一晶体管Q4和第二晶体管Q5，所述高压电源P1的正极接开关K2的一端，开关K2的另一端接开关K3的一端，开关K3的另一端接高压电源P1的负极，所述电感L1的一端、电感L2的一端、电感L3的一端以及电感L4的一端连接在一起并接到开关K2的另一端上；

所述电感L1的另一端接开关K4的一端，电感L2的另一端接开关K5的一端，电感L3的另一端接开关K6的一端，电感L4的另一端接开关K7的一端，开关K4的另一端、开关K5的另一端、开关K6的另一端以及开关K7的另一端均连接到一起并接到开关K8的一端上；开关K8的一端接开关K9的一端，开关K8的另一端接开关K10的一端，开关K9的另一端接晶闸管Q3的第一端，晶闸管Q3的第二端通过开关K11接晶闸管Q2的第一端，晶闸管Q2的第二端接开关K10的另一端；开关K10的一端接第一晶体管Q4的漏极，第一晶体管Q4的源极接第二晶体管Q5的漏极，第二晶体管Q5的源极接晶闸管Q3的第一端。

本实用新型的开关K2和开关K3是切换待测件DUT的第一晶体管或第二晶体管接入测试回路的开关，K2闭合、K3断开时被测件DUT的第二晶体管接入测试回路；开关K4、开关K5、开关K6、开关K7用于4组不同电感量的切换；开关K8或开关K9闭合时，实现第1类短路的测试条件；开关K10或开关K11闭合时，通过控制晶闸管Q2、晶闸管Q3的导通信号，实现第2类短路的测试条件，故本实用新型的电路既能实现第1类短路测试也能实现第2类短路测试。