[实用新型]一种适用于IGBT动态测试的电路

权利要求书

1.一种适用于IGBT动态测试的电路，其特征在于，包括高压电源P1、顺序编号的开关K2至开关K11、晶闸管Q2、晶闸管Q3、电感L1、电感L2、电感L3以及电感L4，待测件DUT包括第一晶体管Q4和第二晶体管Q5，所述高压电源P1的正极接开关K2的一端，开关K2的另一端接开关K3的一端，开关K3的另一端接高压电源P1的负极，所述电感L1的一端、电感L2的一端、电感L3的一端以及电感L4的一端连接在一起并接到开关K2的另一端上；

所述电感L1的另一端接开关K4的一端，电感L2的另一端接开关K5的一端，电感L3的另一端接开关K6的一端，电感L4的另一端接开关K7的一端，开关K4的另一端、开关K5的另一端、开关K6的另一端以及开关K7的另一端均连接到一起并接到开关K8的一端上；开关K8的一端接开关K9的一端，开关K8的另一端接开关K10的一端，开关K9的另一端接晶闸管Q3的第一端，晶闸管Q3的第二端通过开关K11接晶闸管Q2的第一端，晶闸管Q2的第二端接开关K10的另一端；开关K10的一端接第一晶体管Q4的漏极，第一晶体管Q4的源极接第二晶体管Q5的漏极，第二晶体管Q5的源极接晶闸管Q3的第一端。

2.根据权利要求1所述的一种适用于IGBT动态测试的电路，其特征在于，还包括防反二极管D1，所述防反二极管D1的正极接高压电源P1的正极，防反二极管D1的负极接开关K2的一端。

3.根据权利要求2所述的一种适用于IGBT动态测试的电路，其特征在于，还包括电阻R1、开关K1以及电容组C1，所述电阻R1的一端接防反二极管D1的负极，所述电阻R1的另一端接开关K1的一端，开关K1的另一端接高压电源P1的负极，所述电容组C1的一端接电阻R1的一端，所述电容组C1的另一端接开关K1的另一端。

4.根据权利要求3所述的一种适用于IGBT动态测试的电路，其特征在于，还包括晶体管Q1，所述晶体管Q1的漏极接所述电容组C1的一端，所述晶体管Q1的源极接开关K2的一端。

5.根据权利要求4所述的一种适用于IGBT动态测试的电路，其特征在于，还包括二极管D2、二极管D3、开关K12以及开关K13，所述开关K12的一端接开关K10的一端，开关K12的另一端接二极管D2的负极，二极管D2的正极通过开关K14接二极管D3的负极，二极管D3的正极接晶闸管Q3的第一端。

6.根据权利要求5所述的一种适用于IGBT动态测试的电路，其特征在于，还包括电流互感器CT1和电流互感器CT2，所述电流互感器CT1接到所述开关K12与第一晶体管Q4之间，所述电流互感器CT2接到所述二极管D3的正极与第二晶体管Q5之间。

7.根据权利要求6所述的一种适用于IGBT动态测试的电路，其特征在于，还包括开关K14、开关K15以及开关K16，所述开关K14的一端接所述晶体管Q1的源极，所述开关K15的一端接到所述电容组C1的另一端与开关K9的另一端的连线上，所述开关K16的一端接到所述开关K5与开关K6的连线上，所述开关K8的一端接晶闸管Q2的第一端，晶闸管Q2的第一端接二极管D2的正极，二极管D2的正极接晶体管Q4的源极；开关K14的另一端、开关K15的另一端以及开关K16的另一端均接地。