[实用新型]OS测试系统和OS测试装置有效

专利信息
申请号: 201922020069.1 申请日: 2019-11-20
公开(公告)号: CN211374967U 公开(公告)日: 2020-08-28
发明(设计)人: 陈尚立;孔繁波 申请(专利权)人: 深圳市中科蓝讯科技股份有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518000 广东省深圳市南山*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: os 测试 系统 装置
【权利要求书】:

1.一种OS测试系统,其特征在于,包括依次连接的计算机、通讯接口、控制芯片、切换模块和待测芯片,所述控制芯片控制所述切换模块进行管脚测试切换,并采集测试结果、通过所述通讯接口将所述测试结果返回计算机。

2.如权利要求1所述的OS测试系统,其特征在于,所述切换模块包括电阻网络以及电子开关,所述电阻网络中的电阻与所述待测芯片的管脚一一连接,所述电子开关控制待测芯片与控制芯片的连接与否。

3.如权利要求1所述的OS测试系统,其特征在于,该系统还包括与控制芯片连接的显示模块,用于显示所述测试结果。

4.如权利要求1-3任一项所述的OS测试系统,其特征在于,该系统还包括与控制芯片连接的选择模块,所述选择模块用于根据待测芯片的不同类型选择不同的测试方案。

5.如权利要求4所述的OS测试系统,其特征在于,该系统还包括与控制芯片连接的数据存储模块,所述数据存储模块用于存储所述测试结果。

6.一种OS测试装置,其特征在于,该装置包括依次连接的通讯接口、控制芯片、切换模块和待测芯片插座,所述待测芯片插座用于插入待测芯片。

7.如权利要求6所述的OS测试装置,其特征在于,所述切换模块包括电阻网络以及电子开关,所述电阻网络中的电阻与所述待测芯片的管脚一一连接,所述电子开关控制待测芯片与控制芯片的连接与否。

8.如权利要求6所述的OS测试装置,其特征在于,该装置还包括与控制芯片连接的显示模块,用于显示待测芯片的测试结果。

9.如权利要求6-8任一项所述的OS测试装置,其特征在于,该装置还包括与控制芯片连接的选择模块,所述选择模块用于根据待测芯片的不同类型选择不同的测试方案。

10.如权利要求9所述的OS测试装置,其特征在于,该装置还包括与控制芯片连接的数据存储模块,所述数据存储模块用于存储待测芯片的测试结果。

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