[实用新型]硅片清洗设备有效
| 申请号: | 201922014275.1 | 申请日: | 2019-11-20 |
| 公开(公告)号: | CN210628258U | 公开(公告)日: | 2020-05-26 |
| 发明(设计)人: | 左国军;成旭;李雄朋;任金枝 | 申请(专利权)人: | 常州捷佳创精密机械有限公司 |
| 主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67 |
| 代理公司: | 北京友联知识产权代理事务所(普通合伙) 11343 | 代理人: | 汪海屏;刘潇 |
| 地址: | 213133 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 硅片 清洗 设备 | ||
1.一种硅片清洗设备,其特征在于,包括:
工艺机构,数量为至少两个,适于对硅片进行工艺处理;
传输组件,传输所述硅片,以使得所述硅片由任一所述工艺机构移动至任另一所述工艺机构;
其中,所述工艺机构包括至少一个的清洗组件和至少一个的烘干组件,所述清洗组件适于对所述硅片进行清洗,所述烘干组件适于对所述硅片进行烘干。
2.根据权利要求1所述的硅片清洗设备,其特征在于,所述清洗组件包括:
主清洗槽,设有连通部;
副清洗槽,环绕所述主清洗槽设置,并通过所述连通部与所述主清洗槽连通;
循环管,分别与所述主清洗槽和所述副清洗槽连通;
循环泵,设于所述循环管中,驱动液体通过所述循环管在所述主清洗槽和所述副清洗槽之间循环。
3.根据权利要求2所述的硅片清洗设备,其特征在于,
所述主清洗槽的上端部设有若干个的溢流部,所述主清洗槽中的液体由所述溢流部溢出,并进入所述副清洗槽。
4.根据权利要求2所述的硅片清洗设备,其特征在于,包括鼓泡装置,所述鼓泡装置包括:
一个或多个的鼓泡管,设于所述主清洗槽中,具有进气口和鼓泡通孔,所述鼓泡通孔贯穿所述鼓泡管的管壁;
鼓泡气源,与所述进气口连通,驱动气体由所述进气口进入所述鼓泡管,并由所述鼓泡通孔排出所述鼓泡管。
5.根据权利要求4所述的硅片清洗设备,其特征在于,
所述鼓泡管具有往复弯折的闭合回路结构,所述进气口设于所述闭合回路结构的任意位置上;或
所述鼓泡管具有往复弯折的开放通路结构,数量为两个的所述进气口分别设于所述开放通路结构的两端。
6.根据权利要求1所述的硅片清洗设备,其特征在于,所述烘干组件包括:
烘干槽,内部设有烘干风管;
送风装置,驱动气体进入所述烘干风管并由所述烘干风管排出,以烘干所述烘干槽中的所述硅片。
7.根据权利要求6所述的硅片清洗设备,其特征在于,所述送风装置包括:
送风管路,与所述烘干风管连通;
气体驱动装置,设于所述送风管路中,驱动气体由外部空间进入所述送风管路,并通过所述送风管路进入所述烘干风管;
过滤装置,设于所述送风管路中,对进入所述送风管路的气体进行过滤;
控制阀,设于所述送风管路中,控制所述送风管路中的气体流量。
8.根据权利要求1所述的硅片清洗设备,其特征在于,所述传输组件包括:
搬移组件,设有适于悬挂所述硅片的挂篮;
升降驱动装置,驱动所述搬移组件沿纵向方向移动,以使得所述挂篮沿纵向方向靠近或远离所述工艺机构;
平移驱动装置,驱动所述搬移组件沿横向方向移动,以使得所述挂篮由任一所述工艺机构移动至任另一所述工艺机构。
9.根据权利要求1所述的硅片清洗设备,其特征在于,包括:
框架组件;
其中,所述工艺机构设于所述框架组件中,所述传输组件与所述框架组件连接,并适于沿所述框架组件移动。
10.根据权利要求9所述的硅片清洗设备,其特征在于,包括:
隔离组件,设于所述框架组件中,通过在开启状态和关闭状态之间切换,以使得任一所述工艺机构的内部空间与外部空间相互连通或相互分隔。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于常州捷佳创精密机械有限公司,未经常州捷佳创精密机械有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201922014275.1/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种具有充电功能的智能终端壳体防护装置
- 下一篇:一种石英舟硅片的顶升机构
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造





