[实用新型]扫描链动态重配置的确定型test-per-clock测试装置

说明书

本实用新型公开了一种扫描链动态重配置的确定型test‑per‑clock测试装置。本实用新型包括选择器、模式控制器、响应分析器以及动态重配置的扫描链组；该测试装置为基于扫描链动态重配置的test‑per‑clock分块测试装置，扫描链类型分成SFD扫描链和DFD扫描链，扫描链的测试模式分成移位测试模式和响应压缩测试模式。在电路测试时通过模式控制器对扫描链进行动态重配置，将测试数据通过选择器输入到对应的测试模式扫描链中，从而实现对电路的分块测试。本实用新型将时序电路的测试生成简化为组合电路的测试生成，且能优化布线开销和控制复杂性，为解决超大规模电路测试中的测试储存过高、测试应用时间过长、测试功耗过大等问题提供有效解决方案。

技术领域

本实用新型涉及集成电路领域，涉及数字集成电路的确定型test-per-clock测试技术，具体是一种扫描链动态重配置的确定型test-per-clock测试装置。

背景技术

传统固定型测试和时延测试一般采用test-per-scan模式，即测试时测试向量从扫描链中串行地移入，应用测试向量后，再将捕获的测试响应从扫描链中串行移出，同时下一个测试向量被串行移入，每一扫描周期产生一个测试向量。因而，test-per-scan的测试应用时间为电路中扫描链的长度和测试向量数目的乘积。而实际上测试应用(launch)时间数仅为测试向量数目，绝大部分测试时间消耗在扫描移位上。随着电路规模的增大，低效的test-per-scan技术已变得不再适应。

Test-per-clock测试越来越受到关注，其采用并行的方式施加向量和捕获响应，每一测试时钟周期将产生一个测试向量，同时其响应被响应分析器(response analyzer,RA)捕获。因而，与test-per-scan模式相比，test-per-clock模式在测试应用时间上具有很强的优势。但由于每个测试时钟都需产生测试向量和捕获响应，其测试结构的面积开销和测试功耗比常规test-per-scan结构要高。测试结构和测试功耗的优化一直是test-per-clock测试的研究热点。BILBO(built-in logic block observer)测试结构将触发器进行了改造，使其可以在正常模式、移位模式、伪随机模式和MISR(multiple input shiftregister)响应压缩模式间切换。CBILBO将触发器改造成double flip-flop模式。在CBILBO结构中，TPG和RA是独立的，可以同时进行伪随机向量的生成和响应压缩。由于抗伪随机故障的存在，伪随机测试方法的故障检测在短时间内很难达到满意的覆盖率。胡晨等人在论文“一种基于受控LFSR的内建自测试结构及其测试矢量生成”中提出了一种对LFSR进行控制跳转的test-per-clock方法，有效提高了测试效率。周彬等人在论文“A Low PowerTest-per-Clock BIST Scheme through Selectively Activating Multi Two-Bit TRCs”中提出了一种基于2-bit扭环计数器(twisting ring counter,TRC)的测试方法，通过选择性的激活扭环计数器，有效降低了test-per-clock的测试功耗并提高了故障覆盖率。