[实用新型]一种可扩展的芯片连通性测试设备

说明书

本实用新型公开了一种可扩展的芯片连通性测试设备，涉及一种测试设备领域，包括壳体，壳体的内部设置有用于控制可扩展的芯片连通性测试设备的PCB板，相邻可扩展的芯片连通性测试设备之间设置有用于传输数据的数据连接线，壳体的两侧设置有用于连接数据连接线的数据接口，壳体的一端设置有用于接通电源的电源接口，壳体的上方设置有便于更换测试芯片的管壳和用于指示作用的信号指示灯，壳体上设置有用于控制可扩展的芯片连通性测试设备地址位的拨码开关，数据连接线、信号指示灯和拨码开关分别与PCB板连接，本实用新型可以实现同时测量多片芯片节省了时间，本实用新型中的RS232协议用于管理多个可扩展的芯片连通性测试设备有序接收信号和发送信号。

技术领域

本实用新型涉及一种测试设备领域，特别涉及一种可扩展的芯片连通性测试设备。

背景技术

目前主流的芯片连通性测试设备只能测试一块芯片且需要由上位机根据每个待测PIN脚发送不同的命令来读取，如果要测试多块芯片只能测完一颗等上位机发送完命令取下换另一颗反复测试或者同时使用更多的测试设备同时与上位机连接读取，前者效率太低后者成本高昂。

实用新型内容

本实用新型解决的技术问题是提供一种可以同时测量多片芯片的可扩展的芯片连通性测试设备。

本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：一种可扩展的芯片连通性测试设备，包括壳体，所述壳体的内部设置有用于控制可扩展的芯片连通性测试设备的PCB板，所述相邻可扩展的芯片连通性测试设备之间设置有用于传输数据的数据连接线，所述壳体的两侧设置有用于连接数据连接线的数据接口，所述壳体的一端设置有用于接通电源的电源接口，所述壳体的上方设置有便于更换测试芯片的管壳和用于指示作用的信号指示灯，所述壳体上设置有用于控制可扩展的芯片连通性测试设备地址位的拨码开关，所述数据连接线、信号指示灯和拨码开关分别与PCB板连接，所述PCB板用于控制可扩展的芯片连通性测试设备，所述数据连接线用于相邻可扩展的芯片连通性测试设备之间数据的传输，所述数据接口用于连接数据连接线，所述管壳便于测试芯片的更换，所述信号指示灯用于显示测试情况，所述拨码开关用于控制可扩展的芯片连通性测试设备地址位，所述传输总线协议用于管理多个可扩展的芯片连通性测试设备有序接收信号和发送信号。

进一步的是：所述PCB板上设置有微控制单元、包含多个引脚的片选开关，所述片选开关和拨码开关分别与微控制单元连接，所述微控制单元用于控制可扩展的芯片连通性测试设备，所述片选开关用于在保证某个待测引脚接通恒流源的同时其余引脚接地。

进一步的是：所述数据连接线的协议为RS232协议，所述RS232协议传输距离可达十几米还可通过中继器继续拓展长度，即使在可扩展的芯片连通性测试设备数量最多的情况也不会产生信号衰减。

进一步的是：所述片选开关为4颗36选1片选开关，使得可扩展的芯片连通性测试设备单芯片最多测试引脚数量为36*4＝144个。

进一步的是：所述数据连接线为5pin卡扣线。

进一步的是：所述电源接口接通直流稳压电源，防止产生压降，使得输出为稳定的恒流源。

进一步的是：所述拨码开关为16地址位拨码开关。

本实用新型的有益效果是：本实用新型可以实现同时测量多片芯片节省了时间，本实用新型中的RS232协议用于管理多个可扩展的芯片连通性测试设备有序接收信号和发送信号，所述RS232协议传输距离可达十几米还可通过中继器继续拓展长度，即使在可扩展的芯片连通性测试设备数量最多的情况也不会产生信号衰减，所述片选开关用于在保证某个待测引脚接通恒流源的同时其余引脚接地，所述电源接口接通直流稳压电源，防止产生压降，使得输出为稳定的恒流源。

附图说明

图1为一种可扩展的芯片连通性测试设备的结构示意图；

图2为PCB板的结构示意图；