[实用新型]一种可扩展的芯片连通性测试设备

权利要求书

1.一种可扩展的芯片连通性测试设备，包括壳体(1)，其特征在于：所述壳体(1)的内部设置有用于控制可扩展的芯片连通性测试设备的PCB板(7)，

所述相邻可扩展的芯片连通性测试设备之间设置有用于传输数据的数据连接线(2)，所述壳体(1)的两侧设置有用于连接数据连接线(2)的数据接口(3)，所述壳体(1)的一端设置有用于接通电源的电源接口(4)，

所述壳体(1)的上方设置有便于更换测试芯片的管壳(5)和用于指示作用的信号指示灯(6)，所述壳体(1)上设置有用于控制可扩展的芯片连通性测试设备地址位的拨码开关，所述数据连接线(2)、信号指示灯(6)和拨码开关分别与PCB板(7)连接。

2.如权利要求1所述的一种可扩展的芯片连通性测试设备，其特征在于：所述PCB板(7)上设置有用于控制可扩展的芯片连通性测试设备的微控制单元(8)、包含多个引脚的片选开关(9)，所述片选开关(9)和拨码开关分别与微控制单元(8)连接。

3.如权利要求1所述的一种可扩展的芯片连通性测试设备，其特征在于：所述数据连接线(2)的协议为RS232协议。

4.如权利要求1所述的一种可扩展的芯片连通性测试设备，其特征在于：所述片选开关(9)为4颗36选1片选开关(9)。

5.如权利要求1所述的一种可扩展的芯片连通性测试设备，其特征在于：所述数据连接线(2)为5pin卡扣线。

6.如权利要求1所述的一种可扩展的芯片连通性测试设备，其特征在于：所述电源接口(4)接通直流稳压电源。

7.如权利要求1所述的一种可扩展的芯片连通性测试设备，其特征在于：所述拨码开关为16地址位拨码开关。