[实用新型]一种提升磁控溅射镀膜沉积速率装置有效

专利信息
申请号: 201921859837.6 申请日: 2019-10-31
公开(公告)号: CN210657118U 公开(公告)日: 2020-06-02
发明(设计)人: 马毅;谢续友;黄先伟;俞越翎;张泰华 申请(专利权)人: 浙江工业大学
主分类号: C23C14/35 分类号: C23C14/35
代理公司: 杭州浙科专利事务所(普通合伙) 33213 代理人: 吴秉中
地址: 310014 *** 国省代码: 浙江;33
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 提升 磁控溅射 镀膜 沉积 速率 装置
【权利要求书】:

1.一种提升磁控溅射镀膜沉积速率装置,其特征在于,包括真空腔室(3)、设置真空腔室(3)顶部的密封盖(4)、穿设在密封盖(4)上的升降台(5)及固定设置在升降台(5)上的助吸装置(2),所述助吸装置(2)包括吸环(11)、连管(10)及半圆形密封盘(9),所述吸环(11)上均匀分布吸气孔(16),所述连管(10)与吸环(11)相连通,所述半圆形密封盘(9)设置在连管(10)端部位置,所述吸环(11)表面相对位置处设有支撑块(14),所述支撑块(14)上设有紧固螺钉(15),并通过紧固螺钉(15)与升降台(5)相连。

2.根据权利要求1所述的一种提升磁控溅射镀膜沉积速率装置,其特征在于,所述升降台(5)外表面设有基准刻度线(12),所述紧固螺钉(15)沿着基准刻度线(12)移动,并紧压在基准刻度线(12)位置,从而调节助吸装置(2)的高度。

3.根据权利要求1所述的一种提升磁控溅射镀膜沉积速率装置,其特征在于,所述连管(10)与半圆形密封盘(9)相连的一端的截面采用半圆形,另一端焊接设置在吸环(11)上。

4.根据权利要求1所述的一种提升磁控溅射镀膜沉积速率装置,其特征在于,所述半圆形密封盘(9)采用硅胶材料,且半圆形密封盘(9)与真空腔室(3)内壁相贴合。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于浙江工业大学,未经浙江工业大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201921859837.6/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top