[实用新型]PTC元件全自动电性能综合检验装置有效
| 申请号: | 201921819312.X | 申请日: | 2019-10-28 |
| 公开(公告)号: | CN211014500U | 公开(公告)日: | 2020-07-14 |
| 发明(设计)人: | 徐伟 | 申请(专利权)人: | 上海帕克热敏陶瓷有限公司 |
| 主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00;G01K15/00 |
| 代理公司: | 上海骁象知识产权代理有限公司 31315 | 代理人: | 赵峰 |
| 地址: | 201821*** | 国省代码: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | ptc 元件 全自动 性能 综合 检验 装置 | ||
1.一种PTC元件全自动电性能综合检验装置,包括操作台及由位于操作台四周的挡板及自动升降门形成的相对封闭的箱体,其特征在于:操作台上设有用于夹持N片PTC元件的PTC元件治具,N为大于或者等于1的整数,PTC元件治具包括PTC元件卡槽、卡槽升降机构、模组自动滑台和探针顶出机构,
所述的模组自动滑台通过一个滑台模组设于所述的操作台上,所述的卡槽升降机构通过连接件固定在模组自动滑台上,所述的探针顶出机构设置在PTC元件卡槽的前后两侧,
卡槽升降机构包括设置在PTC元件卡槽左右两侧的卡槽升降气缸,
探针顶出机构包括驱动探针位移的驱动元件和4倍N数目的探针,其中2倍N数目的探针位于PTC元件卡槽的前侧且上、下布置,2倍N数目的探针位于PTC元件卡槽的后侧且上、下布置,
所述的箱体内设置有数据检测及处理器,所述的数据检测及处理器通过控制线与卡槽升降气缸的控制端连接,数据检测及处理器通过控制线与探针顶出机构中的驱动元件的控制端连接,
数据检测及处理器包括有N数目的电压信号输出端和N数目的电流信号输出端,任意一个所述的电压信号输出端和任意一个电流信号输出端均各自通过导线与一个探针连接,
数据检测及处理器包括有接地信号端,所述的接地信号端与2倍N数目的探针连接,
箱体内设置有温度检测模块,所述的温度检测模块设置在PTC元件治具上方的一个箱体横梁或者操作台支架上,温度检测模块中包括有红外线测温探头,所述的红外线测温探头通过信号线与数据检测及处理器连接。
2.如权利要求1所述的一种PTC元件全自动电性能综合检验装置,其特征在于:所述温度检测模块包括一个二轴滑台模组,所述的红外线测温探头设置在所述的二轴滑台模组上,二轴滑台模组的控制端通过控制线与所述的数据检测及处理器连接, 红外线测温探头在二轴滑台模组中具有X轴和Y轴的运动方向,X轴与Y轴垂直。
3.如权利要求1所述的一种PTC元件全自动电性能综合检验装置,其特征在于:操作台上方的所述的挡板中设有带网罩的通孔,箱体内设置有散热风机,所述的通孔与所述的散热风机的出风口连通。
4.如权利要求1所述的一种PTC元件全自动电性能综合检验装置,其特征在于:箱体上设有显示单元,所述的显示单元的输入端与所述的数据检测及处理器相连。
5.如权利要求1所述的一种PTC元件全自动电性能综合检验装置,其特征在于:数据检测及处理器包括有打印机接口。
6.如权利要求1所述的一种PTC元件全自动电性能综合检验装置,其特征在于:相邻两个左右相邻的探针之间的间隔均至少大于10mm。
7.如权利要求1所述的一种PTC元件全自动电性能综合检验装置,其特征在于:探针顶出机构中的驱动元件由气缸构成。
8.如权利要求1所述的一种PTC元件全自动电性能综合检验装置,其特征在于:PTC元件卡槽具有容纳N+1片PTC元件的长度。
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