[实用新型]一种半导体测试设备有效
| 申请号： | 201921816036.1 | 申请日： | 2019-10-28 |
| 公开（公告）号： | CN210513571U | 公开（公告）日： | 2020-05-12 |
| 发明（设计）人： | 江俊 | 申请（专利权）人： | 常州顺烨电子有限公司 |
| 主分类号： | G01M3/06 | 分类号： | G01M3/06;G01M3/02 |
| 代理公司： | 南通毅帆知识产权代理事务所(普通合伙) 32386 | 代理人： | 韩冬 |
| 地址： | 213000 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 半导体 测试 设备 | ||
1.一种半导体测试设备，包括深水箱(1)、固定框架(2)和检测液(3)，其特征在于：所述深水箱(1)呈空心无顶立体箱状，所述深水箱(1)的内部填充有检测液(3)，所述检测液(3)为过滤后的水溶液，所述固定框架(2)包括上层框架(4)和下层框架(5)，所述固定框架(2)与深水箱(1)的内壁适配，所述固定框架(2)的侧壁与深水箱(1)的内壁滑动连接，所述上层框架(4)和下层框架(5)适配。
2.根据权利要求1所述的半导体测试设备，其特征在于：所述固定框架(2)的上表面开设有贯穿固定框架(2)的固定孔(6)，所述固定孔(6)的内壁滑动连接有螺纹杆(7)。
3.根据权利要求2所述的半导体测试设备，其特征在于：所述螺纹杆(7)的底部固定连接有重力块(8)，所述重力块(8)的下表面与深水箱(1)的内底壁滑动连接。
4.根据权利要求3所述的半导体测试设备，其特征在于：所述螺纹杆(7)的表面螺纹连接有长筒螺母(9)，所述长筒螺母(9)的下表面与上层框架(4)的上表面滑动连接，所述长筒螺母(9)的外表面固定连接有把手(10)。
5.根据权利要求1所述的半导体测试设备，其特征在于：所述下层框架(5)的两侧均开设有第一凹槽(11)，所述上层框架(4)的两侧均开设有第二凹槽(12)。
6.根据权利要求5所述的半导体测试设备，其特征在于：所述第一凹槽(11)的内壁固定连接有搭扣钳口(13)，所述第二凹槽(12) 的内壁固定连接有搭扣舌座(14)，所述搭扣钳口(13)和搭扣舌座(14)搭接。
7.根据权利要求1所述的半导体测试设备，其特征在于：所述固定框架(2)的内壁固定连接有限位板(15)，所述限位板(15)的表面开设有限位槽(16)。
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