[实用新型]一种用于加电检测多个激光器芯片的装置

权利要求书

1.一种用于加电检测多个激光器芯片的装置，其特征在于，包括底板、压板、压块、若干个激光器外壳和测试电源；

所述压板固定设置在底板的上方，所述底板上设置有若干个激光器外壳，且所述激光器外壳位于所述压板的下方；所述激光器外壳中设置有COS；

每个激光器外壳的上方均设置两个压块，且所述压块固定在所述压板上，所述压块的下端与所述COS相接触，所述压块的上端分别通过导线与相邻的压块相连接，所述压块和COS串联到测试电源上。

2.根据权利要求1所述的一种用于加电检测多个激光器芯片的装置，其特征在于，所述压块贯穿固定在所述压板上，所述激光器外壳的上方设置的两个压块对称设置在所述激光器芯片的两侧。

3.根据权利要求1所述的一种用于加电检测多个激光器芯片的装置，其特征在于，所述压块与所述导线通过可拆卸的方式的连接。

4.根据权利要求1所述的一种用于加电检测多个激光器芯片的装置，其特征在于，所述激光器外壳的上方设置的两个压块之间的距离2-5cm。

5.根据权利要求1所述的一种用于加电检测多个激光器芯片的装置，其特征在于，所述压块为导电金属块。

6.根据权利要求1所述的一种用于加电检测多个激光器芯片的装置，其特征在于，COS中的激光器芯片为808nm激光器芯片、915nm激光器芯片、940nm激光器芯片、980nm激光器芯片中的一种。

7.根据权利要求1-6任一项所述的一种用于加电检测多个激光器芯片的装置，其特征在于，所述装置中激光器外壳的个数为4-10。

8.根据权利要求4所述的一种用于加电检测多个激光器芯片的装置，其特征在于，所述激光器外壳的上方设置的两个压块之间的距离2cm。

9.根据权利要求6所述的一种用于加电检测多个激光器芯片的装置，其特征在于，COS中的激光器芯片为808nm激光器芯片。