[实用新型]芯片测试系统

说明书

该实用新型涉及一种芯片测试系统，能够满足日益增长的芯片测试需求。其中，所述芯片测试系统，包括：测试主板，设置有物理接口单元以及存储器控制器，所述测试主板用于根据待测试芯片的种类配置所述物理接口单元以及存储器控制器；测试子板，设置有芯片种类区分器及安装位，其中所述芯片种类区分器用于区分所述待测试芯片的种类，所述安装位用于安装所述待测试芯片；所述测试主板和测试子板电连接。

技术领域

本实用新型涉及芯片测试领域，具体涉及一种芯片测试系统。

背景技术

随着科学技术的发展，计算机行业对芯片测试的需求也在逐渐增加。芯片种类日益繁多，而不同种类的芯片对芯片测试会有不同的测试需求。比如针对SDRAM(SynchronousDynamic Random Access Memory，同步动态随机存储器)来说，SDRAM的种类可包括DDRSDRAM(Double Data Rate SDRAM，双倍速率的SDRAM)和LPDDR SDRAM(Low Power DoubleData Rate SDRAM，低功耗的双倍速率的SDRAM)，而且DDR SDRAM和LPDDR SDRAM也在不断更新迭代，不同DDR SDRAM和LPDDR SDRAM之间的工作电压、接口I/O类型和封装管脚分布等都不相同。

在芯片的设计、生产过程中，需要使用验证平台来对待测试芯片的功能和性能进行测试。然而，现有技术中，一种验证平台只能对一种芯片进行测试，为了满足不同种类的芯片的测试需求，需要使用不同的验证平台测试不同的芯片，芯片测试效率较低。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种芯片测试系统，能够满足日益增长的芯片测试需求。

为了解决上述技术问题，以下提供了一种芯片测试系统，包括：测试主板，设置有物理接口单元以及存储器控制器，所述测试主板用于根据待测试芯片的种类配置所述物理接口单元以及存储器控制器；测试子板，设置有芯片种类区分器及安装位，其中所述芯片种类区分器用于区分所述待测试芯片的种类，所述安装位用于安装所述待测试芯片；所述测试主板和测试子板电连接。

可选的，所述测试主板还包括：第一连接器，连接至所述物理接口单元；所述测试子板还包括：第二连接器，连接至所述芯片种类区分器以及所述安装位，并与所述第一连接器电连接；所述第一连接器和所述第二连接器用于建立所述测试主板与所述测试子板之间的交互。

可选的，所述测试主板包括：控制芯片，所述物理接口单元和所述存储器控制器设置于所述控制芯片中，所述控制芯片用于配置所述物理接口单元和存储器控制器，使所述物理接口单元和存储器控制器的配置对应至不同种类的待测试芯片；所述控制芯片通过所述物理接口单元与所述第一连接器连接。

可选的，所述测试主板还包括：电源管理单元，电连接至所述第一连接器和所述控制芯片，用于根据待测试芯片的种类向所述控制芯片和所述第一连接器分别输出电压。

可选的，所述芯片种类区分器包括：类型切换开关，用于根据所述安装位上安装的待测试芯片的种类产生相应的芯片识别码；所述测试子板还用于将所述芯片识别码发送至所述测试主板，所述测试主板用于根据所述芯片识别码配置所述物理接口单元以及存储器控制器。

可选的，所述类型切换开关包括多个拨码开关，所述拨码开关的数目与所述芯片识别码的位数相同，并且每一拨码开关的开关状况对应至一位芯片识别码的值。

可选的，所述拨码开关的数目为3个，以产生8个不同的三位芯片识别码，且每一种类的待测试芯片至少对应一个芯片识别码。

可选的，所述安装位设置有引脚连接位，各所述引脚连接位与所述待测试芯片的引脚一一对应。

可选的，所述测试子板可拆卸的连接到所述测试主板。