[实用新型]芯片测试系统

权利要求书

1.一种芯片测试系统，其特征在于，包括：

测试主板，设置有物理接口单元以及存储器控制器，所述测试主板用于根据待测试芯片的种类配置所述物理接口单元以及存储器控制器；

测试子板，设置有芯片种类区分器及安装位，其中所述芯片种类区分器用于区分所述待测试芯片的种类，所述安装位用于安装所述待测试芯片；

所述测试主板和测试子板电连接。

2.根据权利要求1所述的芯片测试系统，其特征在于，所述测试主板还包括：第一连接器，连接至所述物理接口单元；所述测试子板还包括：第二连接器，连接至所述芯片种类区分器以及所述安装位，并与所述第一连接器电连接；所述第一连接器和所述第二连接器用于建立所述测试主板与所述测试子板之间的交互。

3.根据权利要求2所述的芯片测试系统，其特征在于，所述测试主板包括：控制芯片，所述物理接口单元和所述存储器控制器设置于所述控制芯片中，所述控制芯片用于配置所述物理接口单元和存储器控制器，使所述物理接口单元和存储器控制器的配置对应至不同种类的待测试芯片；

所述控制芯片通过所述物理接口单元与所述第一连接器连接。

4.根据权利要求3所述的芯片测试系统，其特征在于，所述测试主板还包括：电源管理单元，电连接至所述第一连接器和所述控制芯片，用于根据待测试芯片的种类向所述控制芯片和所述第一连接器分别输出电压。

5.根据权利要求1所述的芯片测试系统，其特征在于，所述芯片种类区分器包括：

类型切换开关，用于根据所述安装位上安装的待测试芯片的种类产生相应的芯片识别码；

所述测试子板还用于将所述芯片识别码发送至所述测试主板，所述测试主板用于根据所述芯片识别码配置所述物理接口单元以及存储器控制器。

6.根据权利要求5所述的芯片测试系统，其特征在于，所述类型切换开关包括多个拨码开关，所述拨码开关的数目与所述芯片识别码的位数相同，并且每一拨码开关的开关状况对应至一位芯片识别码的值。

7.根据权利要求6所述的芯片测试系统，其特征在于，所述拨码开关的数目为3个，以产生8个不同的三位芯片识别码，且每一种类的待测试芯片至少对应一个芯片识别码。

8.根据权利要求1所述的芯片测试系统，其特征在于，所述安装位设置有引脚连接位，各所述引脚连接位与所述待测试芯片的引脚一一对应。

9.根据权利要求1至8任一项所述的芯片测试系统，其特征在于，所述测试子板可拆卸连接于所述测试主板。

10.根据权利要求2所述的芯片测试系统，其特征在于，所述第一连接器包括DDR4 SO-DIMM连接器或PCIe连接器中的至少一种，所述第二连接器包括DDR4 SO-DIMM连接器或PCIe连接器中的至少一种。