[实用新型]样品仓、光谱检测系统

权利要求书

1.一种样品仓，其特征在于，包括相对设置的第一侧壁和第二侧壁，所述第一侧壁和所述第二侧壁之间的空间用于放置待测样品；

所述第一侧壁用于反射入射的太赫兹波形成第一反射信号，以及透射所述太赫兹波形成第一透射信号；

所述第二侧壁用于全反射第二透射信号，形成第二反射信号；所述第二透射信号由所述第一透射信号透过所述待测样品形成；

所述待测样品包括相对的第一表面和第二表面，所述第一表面和所述第二表面均与所述第一侧壁和所述第二侧壁平行；

所述第一透射信号传输至所述第一表面发生反射形成第三反射信号，以及传输至所述第二表面发生反射形成第四反射信号；所述第一侧壁与所述第二侧壁之间的距离、所述第一反射信号、所述第二反射信号、所述第三反射信号以及所述第四反射信号用于计算所述待测样品的第一表面与第二表面之间的厚度。

2.如权利要求1所述的样品仓，其特征在于，还包括位移设备，所述位移设备用于带动所述待测样品按垂直于所述第一侧壁和所述第二侧壁的方向移动。

3.如权利要求1或2所述的样品仓，其特征在于，所述第一侧壁相对所述第二侧壁的内表面设置有预设大小的第一薄膜，所述第一薄膜用于使入射的太赫兹波发生反射形成所述第一反射信号以及使所述太赫兹波发生透射形成所述第一透射信号；

所述第二侧壁相对所述第一侧壁的内表面设置有第二薄膜，所述第二薄膜用于使所述第二透射信号发生全反射形成第二反射信号；所述第二透射信号由所述第一透射信号透过所述待测样品形成。

4.一种光谱检测系统，其特征在于，包括：太赫兹发射器、太赫兹波检测器以及权利要求1-3任一所述的样品仓；

所述太赫兹发射器用于向所述样品仓的第一侧壁发射太赫兹波；

所述太赫兹波检测器用于接收所述第一侧壁反射的第一反射信号、所述样品仓的第二侧壁反射的第二反射信号、待测样品的第一表面反射的第三反射信号以及所述待测样品的第二表面反射的第四反射信号；

所述第一侧壁与所述第二侧壁之间的距离、所述第一反射信号、所述第二反射信号、所述第三反射信号以及所述第四反射信号用于计算所述待测样品的第一表面与第二表面之间的厚度。