[实用新型]一种霍尔晶圆测试装置

说明书

本实用新型属于晶圆检测装置，为了解决现有技术中测试霍尔晶圆的手动探针台无法同时测试获得磁场系数的技术问题，提供一种霍尔晶圆测试装置，包括基座、显微镜、磁场发生器、高斯计、移动平台、支座和安装于基座上的支架；显微镜安装于支架上，移动平台固定于基座1上，移动平台上设有放置待测晶圆的置物台；磁场发生器安装于支座上；磁场发生器包括无磁性金属框架，无磁性金属框架的中心处开设通孔，通孔的外围设有中空的圆柱形凸台；圆柱形凸台内盘绕有铜线，铜线的两端连接有通电装置；显微镜的镜头位于通孔的正上方，通孔和放置待测晶圆的置物台相对，待测晶圆位于圆柱形凸台的正下方；高斯计的探头放置于待测晶圆上。

技术领域

本实用新型属于晶圆检测装置，具体涉及一种霍尔晶圆测试装置。

背景技术

近年来，集成电路行业快速发展，对相应的测试装置要求越来越高，一种装置往往需要测试多个参数。目前主要是采用手动探针台进行测试，但现有常用的手动探针台，在测量霍尔晶圆时，无法同时测试磁场系数，往往需要购买专业的设备，或是到封测厂测试，会导致成本增加。现有手动探针台工作原理是，将晶圆放置在移动平台上，通过显微镜观察到芯片测试位置，然后通过调整探针来连接芯片的测试位置，探针的另一端与测试仪器相连接，调整仪器参数，进而达到测试芯片的参数。

因此，亟需一种能够在测试霍尔晶圆的同时也对磁场系数进行测试的装置。

实用新型内容

本实用新型为了解决现有技术中测试霍尔晶圆的手动探针台无法同时测试获得磁场系数的技术问题，提供霍尔晶圆测试装置。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：

一种霍尔晶圆测试装置，其特殊之处在于，包括基座、显微镜、磁场发生器、高斯计、移动平台、支座和安装于基座上的支架；所述显微镜安装于支架上，移动平台固定于基座上，移动平台上设有放置待测晶圆的置物台；磁场发生器安装于支座上；所述磁场发生器包括无磁性金属框架，无磁性金属框架的中心处开设通孔，通孔的外围设有中空的圆柱形凸台；所述圆柱形凸台内盘绕有铜线，所述铜线的两端连接有通电装置；所述显微镜的镜头位于通孔的正上方，通孔和放置待测晶圆的置物台相对，待测晶圆位于圆柱形凸台的正下方；高斯计的探头放置于待测晶圆上。

进一步地，还包括安装于基座的真空吸附装置，所述置物台中心处设有至少一个连通孔，真空吸附装置的吸附端穿过所述连通孔至待测晶圆下方，保证放置在置物台上的待测晶圆稳定固定，保证测量精度。

进一步地，所述无磁性金属框架为无磁性金属圆盘。

进一步地，所述所述无磁性金属框架为铝制圆盘，无磁性金属框架固定于铝板上，所述铝板搭放于支座上，铝制材质更轻且能有效控制成本。

进一步地，所述移动平台为丝杠驱动的三向移动平台。

进一步地，所述显微镜夹持安装于支架上。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

1.本实用新型的霍尔晶圆测试装置，通过通电装置为盘绕在无磁性金属框架上的铜线通电，产生磁场，通过显微镜穿过通孔可以观察位于置物台上的待测晶圆，使用高斯计测试磁场大小，移动平台便于调整待测晶圆的位置，使观察更加方便准确，本实用新型的装置结构简单巧妙，制作简单且精度高。

2.本实用新型通过真空吸附装置，能够在不影响磁场的情况下保证待测晶圆的牢靠固定，进一步保证测试结果而定准确性。

3.本实用新型的无磁性金属框架采用铝制圆盘，节约成本的同时降低磁场发生器的重量。

4.本实用新型的移动平台通过丝杠驱动，更加便于操作；三向移动平台使移动更加灵活，操作更加方便。

5.本实用新型的显微镜夹持安装于支架上，便于调整显微镜的高低位置，使用更加灵活方便。