[实用新型]一种霍尔晶圆测试装置有效
申请号: | 201921628480.0 | 申请日: | 2019-09-27 |
公开(公告)号: | CN210982670U | 公开(公告)日: | 2020-07-10 |
发明(设计)人: | 张文伟;宋瑞潮 | 申请(专利权)人: | 西安中科阿尔法电子科技有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28;G01R33/02 |
代理公司: | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人: | 史晓丽 |
地址: | 710119 陕西省西安市高新区新型工业园*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 霍尔 测试 装置 | ||
1.一种霍尔晶圆测试装置,其特征在于:包括基座(1)、显微镜(2)、磁场发生器(3)、高斯计(7)、移动平台(4)、支座(5)和安装于基座(1)上的支架(6);
所述显微镜(2)安装于支架(6)上,移动平台(4)固定于基座(1)上,移动平台(4)上设有放置待测晶圆的置物台;磁场发生器(3)安装于支座(5)上;
所述磁场发生器(3)包括无磁性金属框架(301),无磁性金属框架(301)的中心处开设通孔(302),通孔(302)的外围设有中空的圆柱形凸台(303);所述圆柱形凸台(303)内盘绕有铜线,所述铜线的两端连接有通电装置;
所述显微镜(2)的镜头位于通孔(302)的正上方,通孔(302)和放置待测晶圆的置物台相对,待测晶圆位于圆柱形凸台(303)的正下方;高斯计(7)的探头放置于待测晶圆上。
2.如权利要求1所述一种霍尔晶圆测试装置,其特征在于:还包括安装于基座(1)的真空吸附装置(8),所述置物台中心处设有至少一个连通孔,真空吸附装置(8)的吸附端穿过所述连通孔至待测晶圆下方。
3.如权利要求2所述一种霍尔晶圆测试装置,其特征在于:所述无磁性金属框架(301)为无磁性金属圆盘。
4.如权利要求3所述一种霍尔晶圆测试装置,其特征在于:所述无磁性金属框架(301)为铝制圆盘,无磁性金属框架(301)固定于铝板(304)上,所述铝板(304)搭放于支座(5)上。
5.如权利要求3或4所述一种霍尔晶圆测试装置,其特征在于:所述移动平台(4)为丝杠驱动的三向移动平台。
6.如权利要求5所述一种霍尔晶圆测试装置,其特征在于:所述显微镜(2)夹持安装于支架(6)上。
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