[实用新型]高可靠性的LCM老化试验测试机

说明书

本实用新型提供了一种高可靠性的LCM老化试验测试机，散热功能好，采用了机加工外壳，完美的配合了独有单面设计的测试机信号电路板和电源电路板，上盖、底盒与外置DC电路板、电源电路板与上盖之间铺设有导热棉，信号电路板与底盒之间铺设有导热棉。测试机信号电路板与合体上盖紧紧贴合，测试机电源电路板与下盖紧紧贴合，再在导热棉的作用下，有效的把电路板工作时候自身产生的热量传送到外壳上散热；密封性好：机加工外壳上下盖边框设计有5MM*5MM的凹槽，可以贴上高温密封硅胶条，扣合后密封性更有效；3、使用方便：采用手动卡扣代替螺丝紧固，用手轻轻一按就可以打开外壳，不用任何工具就可以打开外壳更换信号排线，生产效率大大提升。

【技术领域】

本实用新型涉及一种老化测试机，尤其涉及一种高可靠性的LCM老化试验测试机。

【背景技术】

LCM(LCD Module)即LCD显示模组、液晶模块，是指将液晶显示器件,连接件，控制与驱动等外围电路，PCB电路板，背光源,结构件等装配在一起的组件.LCM在生产过程中需要经过LCM可靠性实验，根据LCM可靠性实验规定，LCM需经过高温、低温、高湿的环境中进行可靠性实验，在生产环节之后将LCM放置在老化炉等其他模拟环境中的高温、低温、高湿的测试；而在测试过程中，LCM需要通电与信号并在正常显示的状态下进行测试，LCM老化试验测试机为LCM的老化测试提供电源及显示画面信号；而目前市面上有些老化试验测试机放置在老化炉外部通过排线接入到老化炉内的LCM，由于排线过长导致信号衰减、干扰严重、影响测试效果，并且排线过多容易缠绕，影响老化炉内部测试的LCM数量；而另外一些LCM老化试验测试机也跟LCM一起放置在老化炉内，这些老化测试机结构简单，在老化测试机的电路板上通过螺丝固定的方式加盖一个密封的盖板，存在如下不足：1、现有的测试机机构，在高温情况下，里面电路板散热不够快，元器件温度升高，容易造成参数偏差和寿命减少，高湿情况下密封性不高容易进水气，造成元器件损坏，根据以上情况，容易导致测试机损坏和测试产品损坏；2、上下外壳取用螺丝紧固，工厂生产时候，需要更换测试产品的信号排线，就要拆装螺丝，操作比较麻烦，更是影响生产效率；3、信号接口露在壳体外面，在高湿环境下，容易短路造成信号输出不准与产品损坏；4、在低温环境下，元器件温度低于工作温度时候，容易参数偏差引起测试机损坏和被测试产品损坏。

【实用新型内容】

本实用新型目的在于解决现有的老化测试机安装液晶屏测试连接排线拆卸过程繁琐、散热不佳、防水性能差所存在的问题，而提供一种高可靠性的LCM老化试验测试机。

本实用新型是通过以下技术方案来实现的：一种高可靠性的LCM老化试验测试机，包括上盖、底盒、上盖扣合固定件和电路板；

所述底盒的中间设有一个容纳电路板的腔体，所述电路板容置于所述底盒的腔体中，所述底盒的一侧通过转轴与所述上盖的一侧活动连接，所述上盖的另一侧设有所述上盖扣合固定件，所述底盒的另一侧与所述上盖的另一侧通过所述上盖扣合固定件卡接，所述底盒的外沿设有凹陷，所述电源插口设于凹陷上，所述电路板用于提供LCM信号与电源。

进一步地，电路板包括电源电路板、信号电路板和外置DC电路板，所述上盖的中间也设有一个容纳电路板的腔体，所述电源电路板、信号电路板分别附接于所述上盖与所述底盒的腔体中，所述电源电路板、信号电路板通过所述排线电性连接，所述外置DC电路板设于所述底盒的外沿凹槽处，所述信号电路板与所述外置DC电路板电性连接。

进一步地，所述上盖扣合固定件包括上合卡柱、下合卡扣；

所述上合卡柱设于所述上盖左端中间位置，所述下合卡扣设于所述底盒右端中间位置，所述下合卡扣的凹槽与所述上合卡柱相互卡接固定，所述下合卡扣与所述底盒的连接处设有弹簧。

进一步地，所述信号电路板上设有若干个液晶屏信号接口，所述外置DC电路板上设有电源插口，所述外置DC电路板与所述电源插口通过排线连接。