[实用新型]高可靠性的LCM老化试验测试机有效

专利信息
申请号: 201921488342.7 申请日: 2019-09-09
公开(公告)号: CN211928041U 公开(公告)日: 2020-11-13
发明(设计)人: 杨荣华 申请(专利权)人: 深圳思凯测试技术有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01R1/04
代理公司: 北京汇捷知识产权代理事务所(普通合伙) 11531 代理人: 张利
地址: 518000 广东省深圳市宝安区石*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 可靠性 lcm 老化试验 测试
【权利要求书】:

1.一种高可靠性的LCM老化试验测试机,其特征在于:包括上盖、底盒、上盖扣合固定件和电路板;

所述底盒的中间设有一个容纳电路板的腔体,所述电路板容置于所述底盒的腔体中,所述底盒的一侧通过转轴与所述上盖的一侧活动连接,所述上盖的另一侧设有所述上盖扣合固定件,所述底盒的另一侧与所述上盖的另一侧通过所述上盖扣合固定件卡接,所述底盒的外沿设有凹陷,电源插口设于凹陷上,所述电路板用于提供液晶屏的信号与电源。

2.根据权利要求1所述的高可靠性的LCM老化试验测试机,其特征在于:电路板包括电源电路板、信号电路板和外置DC电路板,所述上盖的中间也设有一个容纳电路板的腔体,所述电源电路板、信号电路板分别附接于所述上盖与所述底盒的腔体中,所述电源电路板、信号电路板通过排线电性连接,所述外置DC电路板设于所述底盒的外沿凹槽处,所述信号电路板与所述外置DC电路板电性连接。

3.根据权利要求1所述的高可靠性的LCM老化试验测试机,其特征在于:所述上盖扣合固定件包括上合卡柱、下合卡扣;

所述上合卡柱设于所述上盖左端中间位置,所述下合卡扣设于所述底盒右端中间位置,所述下合卡扣的凹槽与所述上合卡柱相互卡接固定,所述下合卡扣与所述底盒的连接处设有弹簧。

4.根据权利要求2所述的高可靠性的LCM老化试验测试机,其特征在于:所述信号电路板上设有若干个液晶屏电源与信号接口,所述外置DC电路板上设有电源插口,所述外置DC电路板与所述电源插口通过排线连接。

5.根据权利要求2所述的高可靠性的LCM老化试验测试机,其特征在于:所述电源电路板与上盖的接触处设有导热棉,所述信号电路板与底盒的接触处设有导热棉。

6.根据权利要求2所述的高可靠性的LCM老化试验测试机,其特征在于:所述上盖、底盒的扣合边框上设有密封圈。

7.根据权利要求6所述的高可靠性的LCM老化试验测试机,其特征在于:所述上盖与所述底盒的边框设有5MM*5MM的凹槽均用于放置硅胶密封圈。

8.根据权利要求6所述的高可靠性的LCM老化试验测试机,其特征在于:所述排线容置于所述密封圈下方穿插固定于所述信号电路板与所述外置DC电路板上。

9.根据权利要求3所述的高可靠性的LCM老化试验测试机,其特征在于:所述上合卡柱、下合卡扣均为两组。

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