[实用新型]一种可调控压力的闭孔温度测试装置有效

专利信息
申请号: 201921476430.5 申请日: 2019-09-06
公开(公告)号: CN211697597U 公开(公告)日: 2020-10-16
发明(设计)人: 程跃;洪一生;庄志;鲍晋珍;匡吴奇 申请(专利权)人: 上海恩捷新材料科技有限公司
主分类号: G01N25/12 分类号: G01N25/12
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 201399 上*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 调控 压力 温度 测试 装置
【权利要求书】:

1.一种可调控压力的闭孔温度测试装置,其特征在于,其包含上部,中部,下部三个组成部分;中部包含中间绝缘槽,金属槽,第一金属电极和金属弹簧,中部绝缘槽内部开有圆柱凹槽供金属槽嵌入装配,金属槽开有圆柱凹槽供金属电极嵌入装配,同时弹簧以相同方式嵌入第一金属电极内的凹槽装配;下部为金属底座,开有三个螺纹孔,与中部和上部的通孔一一对应,通过长螺栓拧紧连接。

2.如权利要求1所述的一种可调控压力的闭孔温度测试装置,其特征在于,所述的装置上部包含绝缘隔板和第二金属电极,上部绝缘隔板和第二金属电极通过内部圆柱孔和圆柱台过盈配合方式压紧到一起,再通过三个通孔与中部的通孔及底座上的螺纹孔对应,用螺栓拧紧连接。

3.如权利要求2所述的一种可调控压力的闭孔温度测试装置,其特征在于,所述的绝缘隔板上开有的第六通孔,第七通孔,第八通孔中间绝缘槽上的第三通孔,第四通孔,第五通孔以及金属底座上的螺纹孔配合,借助螺栓实现压紧效果;隔板中心的第九通孔让第二金属电极上的第二凸台能够通过,从而与隔膜直接接触,形成用于电化学测试电池系统通路。

4.如权利要求2所述的一种可调控压力的闭孔温度测试装置,其特征在于,所述的第二金属电极主要作为阻塞电池的另一端电极,第二金属电极上端中心处开有细槽用于放置热电偶测量隔膜温度;金属电极上的第十通孔,第十一通孔,第十二通孔用于与装置中同位置通孔以及底座上的螺纹孔配合,通过螺栓拧紧装配;位于边缘的第三挡块与第一、第二挡块相配合。

5.如权利要求1所述的一种可调控压力的闭孔温度测试装置,其特征在于,所述的中间绝缘槽上设置有第二通孔,第三通孔,第四通孔,与金属底座上的第一内螺纹,第二内螺纹,第三内螺纹相对应,用于将中间绝缘槽固定到金属底座上。

6.如权利要求1所述的一种可调控压力的闭孔温度测试装置,其特征在于,所述的中间绝缘槽中心开有圆柱凹槽,用于放置金属槽,并且在绝缘槽底部另外开有第五通孔用于从金属槽底部接引导线;第二挡块用于与底座上的第一挡块配合。

7.如权利要求1所述的一种可调控压力的闭孔温度测试装置,其特征在于,所述的金属槽通过凹槽提供第一金属电极的活动槽位,并且借助凹槽内放置的金属弹簧与第一金属电极形成导电通路;底端的螺纹孔用于接引导线,并连接至电化学测试设备。

8.如权利要求1所述的一种可调控压力的闭孔温度测试装置,其特征在于,所述的第一金属电极作为阻塞电池的一端电极,与另一端夹持住隔膜,形成完整的电化学测试系统;第一金属电极下端开有圆柱槽,用于容纳金属弹簧;第一凸台作为电极平面,直接接触测试隔膜;第一金属电极的高度略小于圆柱槽的深度。

9.如权利要求1所述的一种可调控压力的闭孔温度测试装置,其特征在于,所述的下部金属底座上设置有第一内螺纹,第二内螺纹,第三内螺纹,使得整个装置固定于底座上。

10.如权利要求1所述的一种可调控压力的闭孔温度测试装置,其特征在于,所述的下部金属底座上开有第一通孔和拱形槽,用于从金属槽底端接引导线,并连接电化学测试设备;底座上的第一挡块主要用于限制中间绝缘槽,绝缘隔板和第二金属电极的转动。

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