[实用新型]一种芯片自动垂直下压测试治具有效
| 申请号： | 201921449420.2 | 申请日： | 2019-08-30 |
| 公开（公告）号： | CN210720496U | 公开（公告）日： | 2020-06-09 |
| 发明（设计）人： | 张军笑;唐坤长 | 申请（专利权）人： | 深圳市涌固精密治具有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04 |
| 代理公司： | 深圳市中科创为专利代理有限公司 44384 | 代理人： | 梁炎芳;谭雪婷 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市龙华新区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 自动 垂直 下压 测试 | ||
【权利要求书】：
1.一种芯片自动垂直下压测试治具，其特征在于：包括上盖、本体、浮动框、针座、薄片、两转压板以及若干转压弹簧，所述上盖中心呈中空状，所述上盖位于本体上方，各所述转压弹簧位于上盖与本体之间，所述本体上设置有一中心镂空槽和两对称设置的转压槽，两所述转压槽位于中心镂空槽相对的两侧，两所述转压板分别位于转压槽中，所述转压板中部通过第一转轴与本体连接，所述转压板第一端通过第二转轴与上盖连接，所述浮动框顶部位于中心镂空槽中，所述浮动框底部位于针座上，所述针座位于薄片上；
其中，所述浮动框、针座、薄片上分别开设有若干用于插放探针的针孔，所述浮动框与针座之间设置有若干浮动弹簧。
2.根据权利要求1所述的芯片自动垂直下压测试治具，其特征在于：所述本体相对的两侧分别设置有滑槽，所述上盖相对的两侧分别设置有滑块，所述滑块位于滑槽中，所述滑块中部设置有缺口，所述转压板第一端位于缺口中。
3.根据权利要求1所述的芯片自动垂直下压测试治具，其特征在于：所述转压板第二端呈三角形状，所述浮动框顶部中心设置有定位槽，所述定位槽相对的两侧设置有三角槽，所述三角槽与转压板第二端适配。
4.根据权利要求1所述的芯片自动垂直下压测试治具，其特征在于：所述针座以及薄片可拆卸固定于本体的中心镂空槽中。
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