[实用新型]一种用于紫外可见分光光度计的薄膜薄片试样支架有效
申请号: | 201921428554.6 | 申请日: | 2019-08-30 |
公开(公告)号: | CN210742105U | 公开(公告)日: | 2020-06-12 |
发明(设计)人: | 王戎戎;罗胜耘 | 申请(专利权)人: | 贵州民族大学 |
主分类号: | G01N21/01 | 分类号: | G01N21/01;G01N21/33 |
代理公司: | 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 | 代理人: | 赵秀斌 |
地址: | 550025 贵*** | 国省代码: | 贵州;52 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 紫外 可见 分光 光度计 薄膜 薄片 试样 支架 | ||
本实用新型公开了一种用于紫外可见分光光度计的薄膜薄片试样支架,包括第一支撑板、底座、第二支撑板,所述第一支撑板和所述第二支撑板间隔平行设置且底端均固定连接所述底座,所述第一支撑板和所述第二支撑板之间竖直设置有薄膜或薄片试样,所述第一支撑板和所述第二支撑板上对称设置有透光孔。有益效果是:固定检测薄膜或薄片类材料透射率及反射率,成本低、易拆卸。
技术领域
本实用新型涉及样品光度测量的固定技术领域,具体的说,是一种用于紫外可见分光光度计的薄膜薄片试样支架。
背景技术
紫外-可见分光光度计是一种用来测量材料对紫外及可见光范围内电磁波的透射率及反射率的仪器。其常见配件为测量液体所使用的样品支架,对于薄膜、薄片类材料则需单独购买昂贵的附加配件,且该类型配件安装复杂,不易拆卸。
实用新型内容
本实用新型所要解决的技术问题是提供一种用于紫外可见分光光度计的薄膜薄片试样支架,固定检测薄膜或薄片类材料透射率及反射率,成本低、易拆卸。
本实用新型解决上述技术问题的技术方案如下:包括第一支撑板、底座、第二支撑板,所述第一支撑板和所述第二支撑板间隔平行设置且底端均固定连接所述底座,所述第一支撑板和所述第二支撑板之间竖直设置有薄膜或薄片试样,所述第一支撑板和所述第二支撑板上对称设置有透光孔。
本实用新型的有益效果是:通过间隙设置的支撑架,将薄膜、薄片类材料通过固定在固定检测薄膜或薄片类材料透射率及反射率。
在上述技术方案的基础上,本实用新型还可以做如下改进。
进一步,所述第一支撑板和所述第二支撑板的侧壁上均设有用于固定薄膜或薄片试样的延伸部,所述第二支撑板上以及所述第二支撑板上的所述延伸部上均设有所述安装孔。
采用上述进一步方案的有益效果是薄膜或薄片试样的厚度较厚,通过延伸快使固定距离变宽,操作方便。
在上述技术方案的基础上,本实用新型还可以做如下改进。
进一步,所述安装孔上设置螺帽,螺丝的一端依次穿过并伸出所述螺帽和所述安装孔后将薄膜或薄片试样抵接在所述第一支撑板的内壁上。
采用上述进一步方案的有益效果是结构钢简单,操作方便。
在上述技术方案的基础上,本实用新型还可以做如下改进。
进一步,所述第一支撑板和所述第二支撑板的材质为塑料材质。
采用上述进一步方案的有益效果是成本低,轻便,便于制造。
在上述技术方案的基础上,本实用新型还可以做如下改进。
进一步,所述底座的底端设有用于卡接在紫外可见分光光度计样品台上的凹槽内的凸块。
采用上述进一步方案的有益效果是结构简单,操作方便。
在上述技术方案的基础上,本实用新型还可以做如下改进。
进一步,所述底座的顶端设有第一凹槽,所述第一凹槽内设有用于吸住紫外-可见分光光度计样品台的磁块。
采用上述进一步方案的有益效果是磁吸方式简单,操作方便。
在上述技术方案的基础上,本实用新型还可以做如下改进。
进一步,所述凸块设置在所述第一凹槽的竖直投影内,所述第一凹槽的槽底设在所述凸块内。
采用上述进一步方案的有益效果是节省空间,造型美观。
附图说明
图1为本实用新型结构示意图;
图2为图1的正视图;
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