[实用新型]一种用于紫外可见分光光度计的薄膜薄片试样支架

权利要求书

1.一种用于紫外可见分光光度计的薄膜薄片试样支架，其特征在于：包括第一支撑板(1)、底座(4)、第二支撑板(8)，所述第一支撑板(1)和所述第二支撑板(8)间隔平行设置且底端均固定连接所述底座(4)，所述第一支撑板(1)和所述第二支撑板(8)之间竖直设置有薄膜或薄片试样，所述第一支撑板(1)和所述第二支撑板(8)上对称设置有透光孔(6)。

2.根据权利要求1所述的一种用于紫外可见分光光度计的薄膜薄片试样支架，其特征在于：所述第一支撑板(1)和所述第二支撑板(8)的侧壁上均设有用于固定薄膜或薄片试样的延伸部(9)，所述第二支撑板(8)上以及所述第二支撑板(8)上的所述延伸部(9)上均设有安装孔(3)。

3.根据权利要求2所述的一种用于紫外可见分光光度计的薄膜薄片试样支架，其特征在于：所述安装孔(3)上设置螺帽(7)，螺丝(5)的一端依次穿过并伸出所述螺帽(7)和所述安装孔(3)后将薄膜或薄片试样抵接在所述第一支撑板(1)的内壁上。

4.根据权利要求1-3任一项所述的一种用于紫外可见分光光度计的薄膜薄片试样支架，其特征在于：所述第一支撑板(1)和所述第二支撑板(8)的材质为塑料材质。

5.根据权利要求1-3任一项所述的一种用于紫外可见分光光度计的薄膜薄片试样支架，其特征在于：所述底座(4)的底端设有用于卡接在紫外可见分光光度计样品台上的凹槽内的凸块(2)。

6.根据权利要求5所述的一种用于紫外可见分光光度计的薄膜薄片试样支架，其特征在于：所述底座(4)的顶端设有第一凹槽(10)，所述第一凹槽(10)内设有用于吸住紫外可见分光光度计样品台的磁块。

7.根据权利要求6所述的一种用于紫外可见分光光度计的薄膜薄片试样支架，其特征在于：所述凸块(2)设置在所述第一凹槽(10)的竖直投影内，所述第一凹槽(10)的槽底设在所述凸块(2)内。