[实用新型]一种多层陶瓷电容器有效
申请号: | 201921424817.6 | 申请日: | 2019-08-28 |
公开(公告)号: | CN210467600U | 公开(公告)日: | 2020-05-05 |
发明(设计)人: | 陆亨;刘伟峰;田述仁;安可荣;卓金丽 | 申请(专利权)人: | 广东风华高新科技股份有限公司 |
主分类号: | H01G4/005 | 分类号: | H01G4/005;H01G4/30;H01G4/12;H01G4/232 |
代理公司: | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人: | 颜希文;宋静娜 |
地址: | 526000 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 多层 陶瓷 电容器 | ||
本实用新型公开了一种多层陶瓷电容器,所述多层陶瓷电容器,利用几何原理,采用特殊内电极图案设计,实现同层内电极的两个部分之间的距离或者识别功能的内电极的长度随研磨深度而变化,并且根据这些信息判断电容器剖片时的研磨深度。本实用新型的多层陶瓷电容器能够在研磨过程中为检验者提供位置信息,使检验者了解当前剖面在样品内的具体位置以及当前剖面的研磨深度,可以提高金相切片检验分析的效果及效率,并且电容器的容量范围宽,可满足小型化和高容量化的要求。
技术领域
本实用新型涉及电子元件领域,尤其涉及一种多层陶瓷电容器。
背景技术
通常对多层陶瓷电容器或其半成品如烧结得到的陶瓷体进行金相切片检验分析时,将待检样品排列在模具内并灌封树脂制成树脂块,然后将固定在树脂块内的样品研磨、抛光,最后将树脂块放在显微镜下观察样品。有时检验者需要了解当前剖面在样品内的具体位置以及当前剖面的研磨深度,比如在发现样品存在内部缺陷时,想了解缺陷在样品内的具体位置和大致尺寸,以便分析缺陷的性质和产生原因;又或者为了更准确地控制研磨进度以免过度研磨错过所关注的剖面位置。然而,常规的多层陶瓷电容器在研磨过程中不能为检验者提供上述信息,导致检验分析的效果欠佳,效率低。
实用新型内容
基于此,本实用新型的目的在于克服上述现有技术的不足之处而提供一种多层陶瓷电容器。将该多层陶瓷电容器研磨时,检验者能够通过测量获知当前剖面在样品内的具体位置以及当前剖面的研磨深度,可以提高金相切片检验分析的效果及效率。
为实现上述目的,本实用新型所采取的技术方案为:一种多层陶瓷电容器,包括陶瓷体、第一外电极、第二外电极、内电极,所述陶瓷体为由多个陶瓷介质层层叠而成的长方体,所述陶瓷体包括相互对置的上表面和下表面、相互对置的第一端面和第二端面、相互对置的第一侧面和第二侧面;
所述内电极包括至少一个第一内电极和至少一个第二内电极,所述第一内电极和第二内电极交替层叠在不同的陶瓷介质层表面;
所述第一内电极、第二内电极中至少有一个为直角梯形;当所述第一内电极为直角梯形时,所述第一内电极与第一端面、第二端面、第一侧面、第二侧面均有间隙;当所述第二内电极为直角梯形时,所述第二内电极与第一端面、第二端面、第一侧面、第二侧面均有间隙;
或者,
所述第一内电极包括第一主体部,所述第二内电极包括第二主体部,所述第一内电极、第二内电极中至少有一个设有识别部;
当所述第一内电极设有识别部时,所述第二内电极和第二外电极相连接,且所述第二内电极与第一外电极绝缘;所述第一主体部为矩形;在平行于第一侧面方向上,所述第一主体部的一端与第一端面有重叠,所述第一主体部的另一端与第二端面有间隙,所述识别部与第二端面有重叠,所述第一主体部与所述识别部有间隙;
当所述第二内电极设有识别部时,所述第一内电极和第一外电极相连接,且所述第一内电极与第二外电极绝缘;所述第二主体部为矩形;在平行于第一侧面方向上,所述第二主体部的一端与第二端面有重叠,所述第二主体部的另一端与第一端面有间隙,所述识别部与第一端面有重叠,所述第二主体部与所述识别部有间隙。
优选地,所述第一外电极完全覆盖第一端面并且顺沿延伸到上表面、下表面、第一侧面和第二侧面;所述第二外电极完全覆盖第二端面并且顺沿延伸到上表面、下表面、第一侧面和第二侧面;所述第一外电极、第二外电极之间有间隔且绝缘。
优选地,所述第一主体部、第二主体部与第一侧面和第二侧面均有间隙。这样可以避免潮气侵入主体部,同时也能避免主体部与外电极在第一侧面和第二侧面上的延伸部分之间发生短路或者闪络。
优选地,所述识别部为直角梯形,所述识别部的直角腰与第一端面或第二端面平行,所述识别部的斜腰靠近第一主体部或第二主体部。
更优选地,所述斜腰与所述第一端面或第二端面形成的锐角为30°~60°。
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