[实用新型]耐久性测试装置

说明书

本实用新型提供了一种耐久性测试装置，包括上位机和下位机组，所述上位机和所述下位机组连接，所述下位机组包括承载器件和n个下位机，每个所述下位机均包括控制模块、存储模块、地址选择模块和m个检测连接模块，所述存储模块、所述地址选择模块、m个所述检测连接模块和所述上位机均与所述控制模块连接，且所述控制模块与所述承载器件连接，m和n均为大于0的自然数。所述耐久性测试装置中，所述下位机组包括n个下位机，所述下位机包括m个所述检测连接模块，m个所述检测连接模块能够使所述耐久性测试装置同时与多个待测存储器件连接，从而实现多个待测存储器件的同时检测，提高检测的效率。

技术领域

本实用新型涉及存储器测试技术领域，尤其涉及一种耐久性测试装置。

背景技术

电可擦可编程只读存储器(Electrically Erasable Programmable Read-Only，EEPROM)是一种非挥发性存储器，该器件广泛应用与对数据存储安全性及可靠性要求较高的应用场合，如门禁考勤系统等，但是EEPROM具有一定范围内的使用寿命，因此需要对EEPROM的耐久性进行测试，现有技术只能针对圆晶或者单个EEPROM进行测试，无法实现多个EEPROM同时进行测试，效率较低。

因此，有必要提供一种新型的耐久性测试装置以解决现有技术中存在的上述问题。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种耐久性测试装置，能够同时对多个待测存储器件进行检测，以提高检测效率。

为实现上述目的，本实用新型的所述耐久性测试装置，包括上位机和下位机组，所述上位机和所述下位机组连接，所述下位机组包括承载器件和n个下位机，每个所述下位机均包括控制模块、存储模块、地址选择模块和m个检测连接模块，所述存储模块、所述地址选择模块、m个所述检测连接模块和所述上位机均与所述控制模块连接，且所述控制模块与所述承载器件连接，m和n均为大于0的自然数。

本实用新型的有益效果在于：由于所述下位机组包括n个下位机，所述下位机包括m个所述检测连接模块，m个所述检测连接模块能够使所述耐久性测试装置同时与多个待测存储器件连接，从而实现多个待测存储器件的同时检测，提高检测的效率。

优选地，所述存储模块为非挥发性存储器，其有益效果在于：防止数据断电丢失。

进一步优选地，所述非挥发性存储器为电可擦可编程只读存储器，其有益效果在于：保证数据的存储安全性和可靠性，避免数据的丢失。

优选地，所述控制模块为单片机。

优选地，所述检测连接模块为基于通用串行总线的接口，其有益效果在于：便于连接待测存储器件。

优选地，所述承载器件为线路板，其有益效果在于：固定所述下位机的位置，且节约了线路，避免线路及下位机的混乱。

优选地，所述承载器件包括通讯连接器件，所述通讯连接器件通过总线与所述上位机连接。

进一步优选地，所述通讯连接器件为通用异步收发传输器，其有益效果在于：便于多条数据的传输。

附图说明

图1为本实用新型的耐久性测试装置的结构框图。

具体实施方式