[实用新型]耐久性测试装置有效
| 申请号： | 201921282309.9 | 申请日： | 2019-08-06 |
| 公开（公告）号： | CN209980793U | 公开（公告）日： | 2020-01-21 |
| 发明（设计）人： | 张新龙;王浩宾;郝清山 | 申请（专利权）人： | 上海亿存芯半导体有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 31286 上海恒锐佳知识产权代理事务所(普通合伙) | 代理人： | 黄海霞 |
| 地址： | 201203 上海市浦东新*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 连接模块 下位机组 下位机 检测 耐久性测试装置 控制模块 上位机 地址选择模块 待测存储器 承载器件 存储模块 本实用新型 | ||
【权利要求书】：
1.一种耐久性测试装置，其特征在于，包括上位机和下位机组，所述上位机和所述下位机组连接，所述下位机组包括承载器件和n个下位机，每个所述下位机均包括控制模块、存储模块、地址选择模块和m个检测连接模块，所述存储模块、所述地址选择模块、m个所述检测连接模块和所述上位机均与所述控制模块连接，且所述控制模块与所述承载器件连接，m和n均为大于0的自然数。
2.根据权利要求1所述的耐久性测试装置，其特征在于，所述存储模块为非挥发性存储器。
3.根据权利要求2所述的耐久性测试装置，其特征在于，所述非挥发性存储器为电可擦可编程只读存储器。
4.根据权利要求1所述的耐久性测试装置，其特征在于，所述控制模块为单片机。
5.根据权利要求1所述的耐久性测试装置，其特征在于，所述检测连接模块为基于通用串行总线的接口。
6.根据权利要求1所述的耐久性测试装置，其特征在于，所述承载器件为线路板。
7.根据权利要求1所述的耐久性测试装置，其特征在于，所述承载器件包括通讯连接器件，所述通讯连接器件通过总线与所述上位机连接。
8.根据权利要求7所述的耐久性测试装置，其特征在于，所述通讯连接器件为通用异步收发传输器。
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