[实用新型]晶圆承载装置及半导体设备有效

专利信息
申请号: 201921225100.9 申请日: 2019-07-31
公开(公告)号: CN210223991U 公开(公告)日: 2020-03-31
发明(设计)人: 程超;高英哲;张文福 申请(专利权)人: 德淮半导体有限公司
主分类号: H01L21/683 分类号: H01L21/683;H01L21/67
代理公司: 上海思捷知识产权代理有限公司 31295 代理人: 王宏婧
地址: 223300 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 承载 装置 半导体设备
【说明书】:

实用新型提供了一种晶圆承载装置及半导体设备,包括承载部,用于承载晶圆;以及,喷淋结构,位于所述承载部上,用于向所述承载部中的晶圆喷淋液体,以冲洗所述晶圆。本实用新型提供的晶圆承载装置,当由于机器故障而导致晶圆长时间停留在所述承载部时,可以通过喷淋结构冲洗所述晶圆上所残留的化学物质,从而防止其腐蚀晶圆,确保晶圆不被损坏,进而确保了最终形成的半导体器件的性能。

技术领域

本实用新型涉及半导体制造技术领域,特别涉及一种晶圆承载装置及半导体设备。

背景技术

在半导体制造过程中,当在某一腔室中对晶圆执行完某一工艺步骤后,通常会利用机械手臂从该某一腔室中的晶圆承载装置中抓取晶圆,并传送晶圆至下一腔室中的晶圆承载装置上,以对该晶圆执行后续工艺步骤。

相关技术中,机械臂难免会发生故障而停止工作,则会导致其无法执行抓取晶圆操作,如此会致使晶圆不能及时进入到下一工艺步骤,而长时间停留在晶圆承载装置中。此时,由于前一工艺步骤通常会在晶圆上残留有化学物质,则该化学物质也会长时间停留在所述晶圆上,其会腐蚀晶圆而造成晶圆损坏,并会影响到最终形成的半导体器件的性能。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种晶圆承载装置及半导体设备,以避免工艺操作所残留的化学物质长时间残留在晶圆上。

本实用新型提供一种晶圆承载装置,所述装置包括:

承载部,用于承载晶圆;以及,

喷淋结构,位于所述承载部上,用于向所述承载部中的晶圆喷淋液体,以冲洗所述晶圆。

可选的,所述喷淋结构包括至少一个喷淋管,所述喷淋管的管壁上开设有至少一个喷淋孔,用于喷淋液体。

可选的,所述承载部包括底座和设置在所述底座上的至少一个卡槽,所述晶圆被竖直放置于所述卡槽中。

可选的,所述承载部包括多个卡槽,多个所述卡槽沿着水平方向顺序排布。

可选的,所述承载部还包括垂直设置在所述底座上的连接杆,所述连接杆为条状结构或者板状结构。

可选的,所述喷淋管设置在所述连接杆的顶端,且垂直于所述连接杆,以及,所述喷淋管还位于所述卡槽上方。

可选的,所述承载结构包括底座、设置在所述底座上的至少一个卡槽,所述晶圆被竖直放置于所述卡槽中。

可选的,所述承载部还包括垂直设置在所述底座上的连接杆,所述连接杆为条状结构或者板状结构。

可选的,所述喷淋结构包括至少一个喷淋孔,所述喷淋孔设置于所述连接杆的杆壁上,用于喷淋液体;

以及,当晶圆放置于所述卡槽时,至少一个喷淋孔的高度高于所述晶圆的高度。

可选的,所述装置还包括与所述连接杆连接的驱动装置;所述驱动装置用于驱动所述连接杆运动,并带动所述底座以及放置于所述底座上的晶圆运动,以传送所述晶圆。

此外,本实用新型还提供了一种半导体设备,所述半导体设备包括工艺腔室、机械手臂以及如上所述的晶圆承载装置;

其中,所述机械手臂用于从所述承载部上夹持晶圆,并传送所述晶圆;

以及,所述晶圆承载装置中的承载部和喷淋结构均位于所述工艺腔室内。

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