[实用新型]一种吸盘有效
| 申请号: | 201921142030.0 | 申请日: | 2019-07-19 |
| 公开(公告)号: | CN211238201U | 公开(公告)日: | 2020-08-11 |
| 发明(设计)人: | 刘群;庞爱锁;林佳继;朱太荣;林依婷 | 申请(专利权)人: | 深圳市拉普拉斯能源技术有限公司 |
| 主分类号: | H01L21/683 | 分类号: | H01L21/683;H01L31/18 |
| 代理公司: | 杭州天昊专利代理事务所(特殊普通合伙) 33283 | 代理人: | 董世博 |
| 地址: | 518118 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 吸盘 | ||
一种吸盘,包括吸盘主体,吸盘主体包括安装部位和吸附部位,安装部位用于吸盘主体的安装,吸附部位用于吸附片状原料;安装部位上设有卡槽和/或安装孔,吸附部位上设有气槽和气孔,气槽和气孔连通;本实用新型的有益效果是:本实用新型采用耐高温材料制作吸盘,适用于高温条件;新颖的吸盘结构设计配合多气槽的同心分布,可以增大吸盘与片状材料之间的吸力,使送料时片状材料很难脱落;插片部位的设置让吸盘很容易的插入到摆放在一起的片状元件之间,大大方便了送料操作。
技术领域
本实用新型涉及送/取料技术领域,尤其涉及用于一种半导体材料或光伏材料加工的吸盘。
背景技术
半导体或光伏材料广泛应用于电子、新能源等行业,半导体和光伏材料通常都需要经过加工处理才能够应用到产品上,CVD技术、扩散工艺或氧化工艺是其中的一种处理方式,其中CVD即化学气相沉积,CVD技术目前已经广泛用于半导体或光伏材料加工,常见的加工设备有PECVD、LPCVD、APCVD等,除了CVD之外还有扩散工艺包括磷扩散、硼扩散等,它们中有许多加工工艺需要在高温条件下进行,比如材料的镀膜、扩散、氧化、LPCVD等管式炉上下料,例如超薄硅片,它需要在低压高温氛围下实现化学反应和沉积成膜,而现实生活中应用较多的:普通片状材料的送/取料,它采用的是吸盘式送/取料机构,很显然,这种机构无法应用在这样的高温环境下,因为吸盘的材料大多是硅胶、聚氨酯,他们在高温下会熔化,无法完成进出料操作,因此急需一种适用于高温条件下的片状材料送/取料装置。
发明内容
本实用新型的目的在于提供一种吸盘,以解决上述背景技术中提出的问题。
为实现上述目的一种吸盘,包括吸盘主体,吸盘主体包括安装部位和吸附部位,安装部位用于吸盘主体的安装,吸附部位用于吸附片状原料(片状原料包括半导体片,如片状硅片)。
作为优选,安装部位上设有卡槽和/或安装孔,吸附部位上设有气槽和气孔,气槽和气孔连通,在一些优选的方式中,气槽设置在吸附部位的表面,不穿透吸附部位,在一些优选的方式中,气孔位于气槽的底部,在一些优选的方式中,气孔位于气槽的侧壁。
作为优选,安装部位的厚度比吸附部位的厚度大,安装部位与吸附部位连接在一起,呈阶梯状设置,它们之间的厚度差能够用于容纳片状原料。
作为优选,吸盘主体内设有至少一个抽气通道,抽气通道至少连通一个气孔,在一些优选的方式中,抽气通道通过气孔连通气槽,当吸附部位表面被原料覆盖时,通过给抽气通道抽气使气槽内压力降低,可以将原料吸附在吸附部位的表面。
作为优选,当气槽数量大于等于两个时,气槽呈同心分布,在一些优选的方式中,气槽可以是环状,成扩散状分布在吸附部位表面,在一些优选的方式中,气槽可以是螺旋状,在一些优选的方式中,气槽的形状可以采用方形,在一些优选的方式中,气槽至少有一个,在一些优选的方式中,气槽可以有多个,当所述气槽为多个时,气槽以尽量均匀分布在吸附部位表面的方式来布置,从而使吸盘主体对片状原料的吸附力尽可能均匀。
作为优选,吸附部位外端设有插片部位,在一些优选的方式中,插片部位的厚度较吸附部位要小,形成一个易于插入片状原料之间的导向结构。
作为优选,吸盘主体采用耐高温材料制成,耐高温材料包括但不限于下列材料:陶瓷、碳化硅、氧化铝、氧化锆及一些耐高温非金属氧化物。
作为优选,该吸盘为对称体,卡槽和安装孔成对的对称设于安装部位,插片部位设有对称的双斜面,且插片部位呈尖状,尖状锋锐处进行磨平,尖状角部对称设有倒角。
作为优选,吸附部位上设有3个环形气槽,它们呈同心分布,且槽深相同,每个气槽的底部皆设有一个气孔,三个气孔呈直线排布在该吸盘的对称面上,且皆位于环形气槽靠近安装部位的一侧上,吸盘主体内还设有一个抽气通道,抽气通道的截面呈扁长方形状,且该抽气通道穿过安装部位连通吸附部位内的所有气孔。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造





