[实用新型]一种半导体设备盖板装置部件洗净超高压保护治具有效

专利信息
申请号: 201921068220.2 申请日: 2019-07-10
公开(公告)号: CN210450215U 公开(公告)日: 2020-05-05
发明(设计)人: 王永东 申请(专利权)人: 安徽富乐德科技发展有限公司
主分类号: B08B13/00 分类号: B08B13/00
代理公司: 铜陵市天成专利事务所(普通合伙) 34105 代理人: 李坤
地址: 244000 *** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 一种 半导体设备 盖板 装置 部件 洗净 超高压 保护
【权利要求书】:

1.一种半导体设备盖板装置部件洗净超高压保护治具,其特征在于:包括正面保护面(1),所述正面保护面(1)的内部开设有第一通孔,所述正面保护面(1)靠近第一通孔的一侧固定连接有正面密封环(2),所述第一通孔的直径与正面密封环(2)的内径相同,所述正面保护面(1)的顶部设置有待洗净部件(3),所述待洗净部件(3)的顶部设置有反面保护面(4),所述反面保护面(4)的内部开设有第二通孔,所述反面保护面(4)靠近第二通孔的一侧固定连接有反面密封环(5),所述反面密封环(5)的内径与第二通孔的直径相同,所述待洗净部件(3)的直径与正面保护面(1)的直径相同,所述待洗净部件(3)的直径与反面保护面(4)的直径相同。

2.根据权利要求1所述的一种半导体设备盖板装置部件洗净超高压保护治具,其特征在于:所述正面保护面(1)的直径为800mm,所述正面密封环(2)的外径为491mm,所述正面密封环(2)的内径为467mm。

3.根据权利要求1所述的一种半导体设备盖板装置部件洗净超高压保护治具,其特征在于:所述正面保护面(1)的厚度为12mm,所述正面密封环(2)的厚度为28mm。

4.根据权利要求1所述的一种半导体设备盖板装置部件洗净超高压保护治具,其特征在于:所述反面保护面(4)的直径为800mm,所述反面密封环(5)的外径为363mm,所述反面密封环(5)的内径为349mm。

5.根据权利要求1所述的一种半导体设备盖板装置部件洗净超高压保护治具,其特征在于:所述反面保护面(4)的厚度为12mm,所述反面密封环(5)的厚度为12mm。

6.根据权利要求1所述的一种半导体设备盖板装置部件洗净超高压保护治具,其特征在于:所述正面保护面(1)的平面度误差值为0.2mm,所述正面密封环(2)的平面度误差值为0.1mm。

7.根据权利要求1所述的一种半导体设备盖板装置部件洗净超高压保护治具,其特征在于:所述反面保护面(4)的平面度误差值为0.2mm,所述反面密封环(5)的平面度误差值为0.1mm。

8.根据权利要求1所述的一种半导体设备盖板装置部件洗净超高压保护治具,其特征在于:所述正面保护面(1)、正面密封环(2)、反面保护面(4)和反面密封环(5)的材质均为优质不锈钢。

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