[实用新型]一种超长寿命芯片测试金手指

说明书

本实用新型提供一种超长寿命芯片测试金手指，包括有测试机及固定设置于测试机上的金手指，金手指设有多个并列排布的测试弹片，测试弹片电接触芯片，并测试机的测试电路，测试弹片设有接触点、过渡切线力臂和圆弧弯脚；采用测试弹片与芯片接触点和与测试机的连接的圆弧弯处，由过渡切线力臂连接构成杠杆，采用杠杆原理省力，并且由于过渡切线力臂的倾斜角度低于10°范围平缓角度，力臂较长，减小了测试弹片的变形量，提高了测试金手指的使用寿命，同时提高了生产效率和降低了人工劳动强度，测试芯片效果大大得到提升。

技术领域

本实用新型涉及芯片测试设备技术领域，更具体地说是指一种超长寿命芯片测试金手指。

背景技术

随着现代电子产品的飞速发展，其核心的组成芯片的生产越来越重要，特别是在生产检测过程，都需要通过检测测试机检测合格由测试夹具一次性安装固定于测试机上，由于大多芯片小且检测数量大，测试夹具要按压芯片于测试机，装有测试弹片的金手指才能电接触到测试机上的检测电路很好的测试检测参数，由于按压力量大和频率高，有时达到6K-8K/h的高频按压，所以现有测试金手指比较容易磨损和损坏，造成不停的更换测试金手指，有时一天就得更换测试金手指，造成人工劳动强度增大，有时也会导致测试过程中磨损测试不准确，影响芯片检测技术效果。

目前传统的芯片测试金手指如图4所示，都两个成三角形角度的测试弹片构成，按压时，测试弹片变形量大，由于按压高频的原因，测试弹片容易磨损损坏，大多寿命比较短，测试金手指结构不合理，造成生产不稳定，大量浪费测试金手指，增大了生产制造成本，人工劳动强度大，造成生产成本增大，生产效率低，影响芯片检测结果。

因此，有必要开发出一种超长寿命芯片测试金手指。

发明内容

本实用新型所要解决的技术问题是提供一种超长寿命芯片测试金手指，测试弹片结构采用杠杆原理，提高了按压承受次数不易磨损损坏和使用寿命，提高了生产效率和降低了人工劳动强度。

为了解决上述技术问题，本实用新型提供一种超长寿命芯片测试金手指，包括有测试机及固定设置于测试机上的金手指，所述金手指设有多个并列排布的测试弹片，所述测试弹片电接触芯片，并所述测试机的测试电路，所述测试弹片设有接触点、过渡切线力臂和圆弧弯脚。

上述结构中，所述接触点与所述圆弧弯脚由所述过渡切线力臂连接。

上述结构中，所述过渡切线力臂与圆弧的切角为10°以内。

上述结构中，所述测试弹片的数量为24～38个并排等距排列。

上述结构中，所述测试弹片为铜片或合金片，一次冲压成形。

上述结构中，所述测试弹片与金手指通过注塑一体成型加工而成。

上述结构中，所述金手指可拆换，通过螺母紧固于测试机上。

上述结构中，所述测试机上相对安装有两个金手指。

本实用新型与现有技术相比的有益效果是：采用测试弹片与芯片接触点和与测试机的连接的圆弧弯处，由过渡切线力臂连接构成杠杆，采用杠杆原理省力，并且由于过渡切线力臂的倾斜角度低于10度范围平缓角度，力臂较长，减小了测试弹片的变形量，大提高了测试弹片的按压承受次数，不易磨损损坏，提高了测试金手指的使用寿命，同时提高了生产效率和降低了人工劳动强度，测试芯片效果大大得到提升。

附图说明

图1为本实用新型具体实施例测试金手指的结构示意图；

图2为本实用新型具体实施例测试金手指的结构剖面示意图；

图3为本实用新型具体实施例测试机的组装结构示意图；

图4为本实用新型具体传统试金手指的结构示意图。

附图标记