[实用新型]一种超长寿命芯片测试金手指有效
| 申请号： | 201921059898.4 | 申请日： | 2019-07-09 |
| 公开（公告）号： | CN210487819U | 公开（公告）日： | 2020-05-08 |
| 发明（设计）人： | 曾伍平 | 申请（专利权）人： | 深圳斯普瑞溙科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04;G01R31/28 |
| 代理公司： | 深圳叁众知识产权代理事务所(普通合伙) 44434 | 代理人： | 杜立光 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市宝安区西*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 超长 寿命 芯片 测试 手指 | ||
【权利要求书】：
1.一种超长寿命芯片测试金手指，其特征在于：包括有测试机及固定设置于测试机上的金手指，所述金手指设有多个并列排布的测试弹片，所述测试弹片电接触芯片，并所述测试机的测试电路，所述测试弹片设有接触点、过渡切线力臂和圆弧弯脚。
2.如权利要求1所述的超长寿命芯片测试金手指，其特征在于：所述接触点与所述圆弧弯脚由所述过渡切线力臂连接成杠杆。
3.如权利要求1所述的超长寿命芯片测试金手指，其特征在于：所述过渡切线力臂与圆弧的切角为10°以内。
4.如权利要求1所述的超长寿命芯片测试金手指，其特征在于：所述测试弹片的数量为24～38个并排等距排列。
5.如权利要求1所述的超长寿命芯片测试金手指，其特征在于：所述测试弹片为铜片或合金片，一次冲压成形。
6.如权利要求1所述的超长寿命芯片测试金手指，其特征在于：所述测试弹片与金手指通过注塑一体成型加工而成。
7.如权利要求1所述的超长寿命芯片测试金手指，其特征在于：所述金手指可拆换，通过螺母紧固于测试机上。
8.如权利要求1所述的超长寿命芯片测试金手指，其特征在于：所述测试机上相对安装有两个金手指。
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