[实用新型]一种霍尔集成电路的动态测试系统

说明书

本实用新型公开了一种霍尔集成电路的动态测试系统，涉及集成电路制造技术领域，旨在解决现有的分选测试系统仅能在静态磁场下对集成电路的数、模或混合电路特性进行测量，无法满足动态磁场下测试的技术问题，其技术方案要点是包括计算机、测试主机、分选装置，所述计算机耦接于测试主机，所述测试主机耦接于分选装置，所述测试主机内部设置有直流电源，所述分选装置位于测试口两侧设置有电磁装置，所述电磁装置与直流电源电连接，所述分选装置设置有夹持测试装置，所述夹持测试装置与直流电源电连接。达到了在集成电路外侧施加动态的磁场，并可以在动态磁场下测量集成电路的数模混合电路特性的效果。

技术领域

本实用新型涉及集成电路制造技术领域，更具体地说，它涉及一种霍尔集成电路的动态测试系统。

背景技术

霍尔集成电路是霍尔元件与电子线路一体化的产品，它是由霍尔元件、放大器、温度补偿电路和稳压电路利用集成电路工艺技术制成的。一般的霍尔集成电路在封装完成之后需要对其进行数模或混合电路特性参数测试以检测霍尔集成电路工作是否正常。

现有授权公告号为CN207799023U的中国专利，公开了一种集成电路测试系统。其中，该集成电路测试系统包括：测试系统主机；核心控制模块，通过数据连接控制器与测试系统主机相连接；程控电压电流源，通过地址数据总线与核心控制模块相连接，用于输出电流；用户测试卡，与程控电压电流源相连接，用于存储测试参数和测试条件；待测器件，连接在用户测试卡的输出端，并且与核心控制模块相连接，其中，测试系统主机通过核心控制模块按照用户测试卡中的测试参数和测试条件对待测器件执行自动测试。

但是，现有的分选测试系统仅能在静态磁场下对集成电路的数、模或混合电路特性进行测量，无法满足动态磁场下的测试，故有待改善。

实用新型内容

针对现有技术存在的不足，本实用新型的目的在于提供一种霍尔集成电路的动态测试系统，其具有在集成电路外侧施加动态的磁场，并可以在动态磁场下测量集成电路的数模混合电路特性的优势。

为实现上述目的，本实用新型提供了如下技术方案：

一种霍尔集成电路的动态测试系统，包括计算机、测试主机、分选装置，所述计算机耦接于测试主机，所述测试主机耦接于分选装置，所述测试主机内部设置有直流电源，所述分选装置位于测试口两侧设置有电磁装置，所述电磁装置与直流电源电连接，所述分选装置设置有夹持测试装置，所述夹持测试装置与直流电源电连接。

通过采用上述技术方案，测试主机通过控制直流电源输出不同大小和方向的电流给电磁装置从而使得电磁装置产生不同磁场强度和方向的磁场。在测试口形成了动态的磁场并在测试口对集成电路的电路特性进行测量，从而能够满足动态磁场下集成电路的电路特性的测量，符合多种集成电路测试的环境要求，确保产品发挥正常的电性特性。

进一步地，所述分选装置位于测试口底端设置有转动装置，所述转动装置耦接于测试主机，所述转动装置底端设置有三个以上的出料口。

通过采用上述技术方案，转动装置和出料口的设置便于通过测试主机判断集成电路的电路特性是否符合要求而对集成电路进行分类。

进一步地，所述转动装置底端设置有承接台，所述承接台上设置有与出料口一一对应的嵌置槽，所述嵌置槽中滑移连接有储料仓，所述储料仓与出料口相通。

通过采用上述技术方案，承接台、嵌置槽和储料仓的设置便于对分类后的集成电路进行收集，从而将良品的集成电路收归一起，将次品收归一起，防止测试分类后的良品和次品混合到一起。嵌置槽的设置便于对储料仓进行支撑，从而使得储料仓对分类后的集成电路进行更稳定的收集。

进一步地，所述储料仓远离测试口的一侧设置有握持把手。

通过采用上述技术方案，握持把手的设置便于对储料仓进行推拉操作，从而便于实现将储料仓推放进嵌置槽或者从嵌置槽中取出。