[实用新型]一种霍尔集成电路的动态测试系统有效
| 申请号： | 201921049471.6 | 申请日： | 2019-07-05 |
| 公开（公告）号： | CN210411600U | 公开（公告）日： | 2020-04-28 |
| 发明（设计）人： | 吴斌;吴家乐;杭丹丹;杭琪琪 | 申请（专利权）人： | 南通鑫晶电子科技有限公司 |
| 主分类号： | B07C5/344 | 分类号： | B07C5/344;B07C5/38;B07C5/02;G01R31/28;G01R31/00;G01R1/04 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 226014 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 霍尔 集成电路 动态 测试 系统 | ||
1.一种霍尔集成电路的动态测试系统，包括计算机、测试主机(1)、分选装置(2)，所述计算机耦接于测试主机(1)，所述测试主机(1)耦接于分选装置(2)，其特征在于：所述测试主机(1)内部设置有直流电源(13)，所述分选装置(2)位于测试口两侧设置有电磁装置(21)，所述电磁装置(21)与直流电源(13)电连接，所述分选装置(2)设置有夹持测试装置(22)，所述夹持测试装置(22)与直流电源(13)电连接。
2.根据权利要求1所述的霍尔集成电路的动态测试系统，其特征在于：所述分选装置(2)位于测试口底端设置有转动装置(23)，所述转动装置(23)耦接于测试主机(1)，所述转动装置(23)底端设置有三个以上的出料口(233)。
3.根据权利要求2所述的霍尔集成电路的动态测试系统，其特征在于：所述转动装置(23)底端设置有承接台(3)，所述承接台(3)上设置有与出料口(233)一一对应的嵌置槽(31)，所述嵌置槽(31)中滑移连接有储料仓(311)，所述储料仓(311)与出料口(233)相通。
4.根据权利要求3所述的霍尔集成电路的动态测试系统，其特征在于：所述储料仓(311)远离测试口的一侧设置有握持把手(3111)。
5.根据权利要求2所述的霍尔集成电路的动态测试系统，其特征在于：所述分选装置(2)顶端设置有振动上料装置(4)，所述振动上料装置(4)固定连接有上料轨道(41)。
6.根据权利要求5所述的霍尔集成电路的动态测试系统，其特征在于：所述上料轨道(41)靠近振动上料装置(4)的一端设置有导向槽(42)，所述导向槽(42)一侧侧壁固定在振动上料装置(4)的侧壁上，另一侧侧壁转动连接有导向板(422)。
7.根据权利要求6所述的霍尔集成电路的动态测试系统，其特征在于：所述振动上料装置(4)与上料轨道(41)固定的一侧底端设置有废料口(43)，所述废料口(43)底端设置有出料管(431)。
8.根据权利要求7所述的霍尔集成电路的动态测试系统，其特征在于：所述出料管(431)底端固定有收集盒(4311)。
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