[实用新型]一种半导体分立器件的半自动检测装置

说明书

本实用新型公开了一种半导体分立器件的半自动检测装置，属于半导体分立器件的封装检测设备领域。包括工作台、放大镜、卷盘、过渡辊和支撑辊，所述工作台包括中间的检测台面，以及和检测台面一体相连的左侧的放卷架与右侧的收卷架，所述放卷架和收卷架上分别设有卷轴，所述卷盘安装在卷轴上，卷轴一端设有马达驱动，所述过渡辊安装在检测台面侧面的拐角处，所述放大镜位于检测台面中部，支撑辊安装在放大镜两侧；本实用新型通过两侧的马达独立控制左侧的卷盘自动放卷和右侧卷盘自动收卷，使得半导体分立器件的编带放卷、收卷方便，提高了检测效率，而且由支撑辊支撑编带位于放大镜下方的高度一致，确保了检测准确度。

技术领域

本实用新型属于半导体分立器件的封装检测设备领域，具体涉及一种半导体分立器件的半自动检测装置。

背景技术

在半导体分立器件制造行业中，一般地分立器件都是采用编带封装。在封装前，需要对编带及其贮格内的分立器件外观进行100%检测是否合格。例如器件的引脚错位、镀层脱落、引脚毛刺、主体不良、印字不良、编带不良等等现象。现有企业中采用人工目测的方法检测，将器件产品编带好放到放大镜下面进行检测，挑出不良的部分并补齐良品，然后将检测后的编带放到卷盘中人工收卷。这种方法虽然检测成本低，但是人力劳动强度大，检测效率低下，工作中，编带放置散乱，而且人工将编带放置到放大镜的下方高度无法保持一致，无法确保检测准度，易出错。

实用新型内容

针对现有技术中缺陷与不足的问题，本实用新型提出了一种半导体分立器件的半自动检测装置，通过两侧的马达独立控制左侧的卷盘自动放卷和右侧卷盘自动收卷，使得半导体分立器件的封装编带放卷、收卷方便，提高了检测效率，而且由支撑辊支撑编带位于放大镜下方的高度一致，确保了检测准确度。

本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案为：

一种半导体分立器件的半自动检测装置, 包括工作台、放大镜、卷盘、过渡辊和支撑辊，所述工作台包括中间的检测台面，以及和检测台面一体相连的左侧的放卷架与右侧的收卷架，所述放卷架和收卷架上分别设有卷轴，所述卷盘安装在卷轴上，卷轴一端设有马达驱动，所述过渡辊安装在检测台面侧面的拐角处，所述放大镜位于检测台面中部，支撑辊安装在放大镜两侧。

进一步的，所述放卷架和收卷架分别设有置物台和箱座，箱座与检测台面高度平齐。

进一步的，所述箱座上设有控制卷盘的操作按钮，操作按钮包括电源开关、调速开关和暂停开关。

进一步的，所述马达采用变频马达，马达位于箱座内。

进一步的，所述检测台面上设有两挡辊，挡辊布置在左侧的支撑辊右侧且位于编带的两侧。

进一步的，所述放大镜通过可调支座固定。

进一步的，所述卷盘上设有三个可拆卸的隔环。

本实用新型具有如下有益效果：本实用新型可同时对两组编带进行检测，放卷、收卷可独立控制，速度可控，操作方便；放大镜通过可调支座对放大镜到编带之间的距离可进行调节，支撑辊使得编带位于放大镜下方高度一致，确保检测准度；挡辊可以防止编带传输过程中跑偏；本实用新型节省了人力，提高了半导体分立器件的检测效率和准确性。

附图说明

图1为本实用新型结构主视图；

图2为本实用新型结构俯视图。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型的具体实施方式进行详细说明。