[实用新型]一种半导体分立器件的半自动检测装置

权利要求书

1.一种半导体分立器件的半自动检测装置，其特征在于为：包括工作台、放大镜、卷盘、过渡辊和支撑辊，所述工作台包括中间的检测台面，以及和检测台面一体相连的左侧的放卷架与右侧的收卷架，所述放卷架和收卷架上分别设有卷轴，所述卷盘安装在卷轴上，卷轴一端设有马达驱动，所述过渡辊安装在检测台面侧面的拐角处，所述放大镜位于检测台面中部，支撑辊安装在放大镜两侧。

2.如权利要求1所述的一种半导体分立器件的半自动检测装置，其特征在于：所述放卷架和收卷架分别设有置物台和箱座，箱座与检测台面高度平齐。

3.如权利要求2所述的一种半导体分立器件的半自动检测装置，其特征在于：所述箱座上设有控制卷盘的操作按钮，操作按钮包括电源开关、调速开关和暂停开关。

4.如权利要求1所述的一种半导体分立器件的半自动检测装置，其特征在于：所述马达采用变频马达，马达位于箱座内。

5.如权利要求1所述的一种半导体分立器件的半自动检测装置，其特征在于：所述检测台面上设有两挡辊，挡辊布置在左侧的支撑辊右侧且位于编带的两侧。

6.如权利要求1所述的一种半导体分立器件的半自动检测装置，其特征在于：所述放大镜通过可调支座固定。

7.如权利要求1所述的一种半导体分立器件的半自动检测装置，其特征在于：所述卷盘上设有三个可拆卸的隔环。