[实用新型]一种磁控溅射反应设备换样片装置有效

专利信息
申请号: 201920924587.3 申请日: 2019-06-19
公开(公告)号: CN210314469U 公开(公告)日: 2020-04-14
发明(设计)人: 鲁聪达;俞越翎;马毅;黄先伟;宋宇轩;张泰华 申请(专利权)人: 浙江工业大学
主分类号: C23C14/35 分类号: C23C14/35
代理公司: 浙江千克知识产权代理有限公司 33246 代理人: 周希良;俞昊文
地址: 310014 浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 磁控溅射 反应 设备 样片 装置
【权利要求书】:

1.一种磁控溅射反应设备换样片装置,包括取样长杆,其特征在于,所述装置还包括圆筒、样片基座及设于取样长杆前部的长杆端部,所述长杆端部包括长杆端头、电磁铁、伸缩机构及微动开关,所述电磁铁、伸缩机构及微动开关设于圆筒内,所述电磁铁设于长杆端头的后方,所述电磁铁后方装设有伸缩机构,所述伸缩机构的尾端伸缩接触微动开关,所述样片基座包括设有凹陷口的尾端,所述长杆端头在尾端的凹陷口进出。

2.如权利要求1所述的一种磁控溅射反应设备换样片装置,其特征在于,所述伸缩机构包括小杆、卡位圆环、弹簧,所述电磁铁后方中央设有供小杆端部伸入的容纳腔,所述弹簧套设在小杆外,所述弹簧的前端固定在电磁铁后方,所述弹簧的后端与接触块固定,所述卡位圆环固定在圆筒内壁上,长杆端头及电磁铁向后移动时,所述接触块与微动开关接触。

3.如权利要求1所述的一种磁控溅射反应设备换样片装置,其特征在于,所述长杆端头为圆台状,所述样片基座的凹陷口为与长杆端头相匹配的圆台状凹陷口。

4.如权利要求1所述的一种磁控溅射反应设备换样片装置,其特征在于,所述电磁铁后方固定有电磁铁基座。

5.如权利要求1所述的一种磁控溅射反应设备换样片装置,其特征在于,所述样片基座中部设有样片放置区。

6.如权利要求5所述的一种磁控溅射反应设备换样片装置,其特征在于,所述样片放置区为下凹成圆形的磁控溅射基底。

7.如权利要求1所述的一种磁控溅射反应设备换样片装置,其特征在于,所述微动开关前部设有接触片,所述伸缩机构的尾端与所述接触片通过伸缩接触。

8.如权利要求1所述的一种磁控溅射反应设备换样片装置,其特征在于,所述微动开关安装在开关基座上。

9.如权利要求1所述的一种磁控溅射反应设备换样片装置,其特征在于,所述样片基座为片状。

10.如权利要求1所述的一种磁控溅射反应设备换样片装置,其特征在于,所述样片基座的基座前端为矩形凸起。

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