[实用新型]一种电子元件综合试验台

权利要求书

1.一种电子元件综合试验台，包括工作台（1），其特征在于：所述工作台（1）的顶部分别固定连接测验装置（2）和夹持台（3）、夹持台（3）位于测验装置（2）的前侧，夹持台（3）的顶部开设有凹槽（302），凹槽（302）的内底壁开设有连接槽（303），夹持台（3）的正面开设有通孔（301），通孔（301）的内部活动连接有连板（4），夹持台（3）的正面固定连接有连接柱（21），连接柱（21）位于通孔（301）的上方，连接柱（21）远离夹持台（3）的一端转动连接有转杆（22）；所述夹持台（3）的内部开设有内腔（5），内腔（5）与通孔（301）、凹槽（302）相连通，连板（4）通过贯穿通孔（301）延伸至内腔（5）的内部，连板（4）位于内腔（5）内部的一端固定连接有固定杆（6），固定杆（6）的顶部以自身中心线左右对称开设有第一连接孔（7），第一连接孔（7）的内部活动连接有第一转轴（8），第一转轴（8）的顶部固定连接有第一定位块（9），第一转轴（8）的底部转动连接有连接杆（10），连接杆（10）位于顶部的中心处开设有第二连接孔（11），第二连接孔（11）的内部活动连接有第二转轴（12），第二转轴（12）的顶部固定连接有第二定位块（13），第二转轴（12）靠近连接杆（10）底部的外表面固定连接有第三定位块（131），第二转轴（12）的底部与内腔（5）固定连接，连接杆（10）远离第一转轴（8）的一端的顶部转动连接有第一铰接柱（14），第一铰接柱（14）的顶部铰接有铰接杆（15），铰接杆（15）后面的中心处转动连接有连接轴（19），连接轴（19）的后端转动连接有固定板（20），固定板（20）与内腔（5）固定连接，铰接杆（15）远离第一铰接柱（14）的一端铰接有第二铰接柱（16），第二铰接柱（16）的右端固定连接有连接块（17），连接块（17）与连接槽（303）滑动连接，连接块（17）的顶部固定连接有夹紧块（18），夹紧块（18）的右端穿过夹持台（3）延伸至凹槽（302）的内部。

2.根据权利要求1所述的一种电子元件综合试验台，其特征在于：所述夹紧块（18）位于凹槽（302）内部的一端为弧形，且夹紧块（18）的弧形端上设置有防滑垫。

3.根据权利要求1所述的一种电子元件综合试验台，其特征在于：所述第二连接孔（11）的长度大于第一连接孔（7）的长度，且第二连接孔（11）的长度大于连接块（17）的长度。

4.根据权利要求1所述的一种电子元件综合试验台，其特征在于：所述第二定位块（13）与第三定位块（131）的间距大于连接杆（10）的厚度，且第三定位块（131）与连接杆（10）接触连接。

5.根据权利要求1所述的一种电子元件综合试验台，其特征在于：所述连板（4）的顶部开设有齿槽，且齿槽与转杆（22）底部设置的锥形齿相适配。

6.根据权利要求1所述的一种电子元件综合试验台，其特征在于：所述铰接杆（15）的长度大于连接槽（303）的长度。