[实用新型]用于高温测试的光学系统及应用其的高温测试系统

说明书

本申请的用于高温测试的光学系统及应用其的高温测试系统，包括第一采集装置、第二采集装置及至少一照明光源，至少一照明光源用于照射高温测试物体，第一采集装置与第二采集装置用于采集高温测试物体的图像；第一采集装置与第二采集装置分别设置在高温测试物体的同一侧的不同方向上，第一采集装置与第二采集装置均包括相机、紫外镜头及紫外滤光片，相机的光谱响应范围包括紫外光，紫外镜头设置在相机上，紫外滤光片设置在紫外镜头的前方；至少一照明光源的发射光波长与紫外滤光片的中心波长相匹配。本申请能够提高高温测试的观测温度并实现对高温测试物体的三维信息分析。

技术领域

本申请涉及光学技术领域，具体涉及一种用于高温测试的光学系统及应用其的高温测试系统。

背景技术

对于一些工业领域和高温材料、电弧电极材料的开发等，使用者或开发者需对材料的烧蚀过程进行全程观测和记录，从而对其烧蚀特性进行分析。

高温观测一般均采用非接触式的光学系统，结合计算装置辅助进行观测和数据分析，但现有的系统光谱响应曲线主要集中在可见区，受限于更高温度的测试，且对于形状不规则的测试物体，无法实现三维信息分析，导致无法精确评估材料的烧蚀特性。

实用新型内容

针对上述技术问题，本申请提供一种用于高温测试的光学系统及应用其的高温测试系统，能够提高高温测试的观测温度并实现对高温测试物体的三维信息分析。

为解决上述技术问题，本申请提供一种用于高温测试的光学系统，包括第一采集装置、第二采集装置及至少一照明光源，所述至少一照明光源用于照射高温测试物体，所述第一采集装置与所述第二采集装置用于采集所述高温测试物体的图像；

所述第一采集装置与所述第二采集装置分别设置在所述高温测试物体的同一侧的不同方向上，所述第一采集装置与所述第二采集装置均包括相机、紫外镜头及紫外滤光片，所述相机的光谱响应范围包括紫外光，所述紫外镜头设置在所述相机上，所述紫外滤光片设置在所述紫外镜头的前方；

所述至少一照明光源的发射光波长与所述紫外滤光片的中心波长相匹配。

其中，所述照明光源的个数为一个，所述第一采集装置、所述第二采集装置及所述照明光源位于所述高温测试物体的同一侧，所述第一采集装置与所述第二采集装置在所述照明光源的两侧对称设置。

其中，其中，所述照明光源的个数为两个，所述第一采集装置、所述第二采集装置及两个所述照明光源位于所述高温测试物体的同一侧，两个所述照明光源分别位于所述第一采集装置与所述第二采集装置的外侧，或者，两个所述照明光源均位于所述第一采集装置与所述第二采集装置之间。

其中，所述照明光源的个数为三个，所述第一采集装置、所述第二采集装置及三个所述照明光源位于所述高温测试物体的同一侧，其中两个所述照明光源分别位于所述第一采集装置与所述第二采集装置的外侧，另一个所述照明光源设置位于所述第一采集装置与所述第二采集装置之间。

其中，所述相机为CMOS相机。

其中，所述紫外镜头可透过的光波长为200-300nm。

其中，所述至少一照明光源为发射光波长为200-320nm的氘灯，或，所述至少一照明光源为发射光波长小于300nm的紫外LED阵列。

其中，所述用于高温测试的光学系统还包括计算装置，所述计算装置分别与所述第一采集装置及所述第二采集装置连接，所述计算装置用于根据所述第一采集装置及所述第二采集装置采集的图像分析所述高温测试物体的三维位移场、应变场和/或烧蚀特性。

本申请还提供一种高温测试系统，包括测试室及如上所述的用于高温测试的光学系统，所述测试室用于对高温测试物体进行加热，所述用于高温测试的光学系统位于所述测试室外部的一侧。