[实用新型]用于高温测试的光学系统及应用其的高温测试系统

权利要求书

1.一种用于高温测试的光学系统，其特征在于，包括第一采集装置、第二采集装置及至少一照明光源，所述至少一照明光源用于照射高温测试物体，所述第一采集装置与所述第二采集装置用于采集所述高温测试物体的图像；

所述第一采集装置与所述第二采集装置分别设置在所述高温测试物体的同一侧的不同方向上，所述第一采集装置与所述第二采集装置均包括相机、紫外镜头及紫外滤光片，所述相机的光谱响应范围包括紫外光，所述紫外镜头设置在所述相机上，所述紫外滤光片设置在所述紫外镜头的前方；

所述至少一照明光源的发射光波长与所述紫外滤光片的中心波长相匹配。

2.根据权利要求1所述的用于高温测试的光学系统，其特征在于，所述照明光源的个数为一个，所述第一采集装置、所述第二采集装置及所述照明光源位于所述高温测试物体的同一侧，所述第一采集装置与所述第二采集装置在所述照明光源的两侧对称设置。

3.根据权利要求1所述的用于高温测试的光学系统，其特征在于，所述照明光源的个数为两个，所述第一采集装置、所述第二采集装置及两个所述照明光源位于所述高温测试物体的同一侧，两个所述照明光源分别位于所述第一采集装置与所述第二采集装置的外侧，或者，两个所述照明光源均位于所述第一采集装置与所述第二采集装置之间。

4.根据权利要求1所述的用于高温测试的光学系统，其特征在于，所述照明光源的个数为三个，所述第一采集装置、所述第二采集装置及三个所述照明光源位于所述高温测试物体的同一侧，其中两个所述照明光源分别位于所述第一采集装置与所述第二采集装置的外侧，另一个所述照明光源设置位于所述第一采集装置与所述第二采集装置之间。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的用于高温测试的光学系统，其特征在于，所述相机为CMOS相机。

6.根据权利要求1至4中任一项所述的用于高温测试的光学系统，其特征在于，所述紫外镜头可透过的光波长为200-300nm。

7.根据权利要求1至4中任一项所述的用于高温测试的光学系统，其特征在于，所述至少一照明光源为发射光波长为200-320nm的氘灯，或，所述至少一照明光源为发射光波长小于300nm的紫外LED阵列。

8.根据权利要求1至4中任一项所述的用于高温测试的光学系统，其特征在于，还包括计算装置，所述计算装置分别与所述第一采集装置及所述第二采集装置连接，所述计算装置用于根据所述第一采集装置及所述第二采集装置采集的图像分析所述高温测试物体的三维位移场、应变场和/或烧蚀特性。

9.一种高温测试系统，其特征在于，包括测试室及如权利要求1至8中任一项所述的用于高温测试的光学系统，所述测试室用于对高温测试物体进行加热，所述用于高温测试的光学系统位于所述测试室外部的一侧。

10.根据权利要求9所述的高温测试系统，其特征在于，所述测试室的一侧设有分别与所述用于高温测试的光学系统中的第一采集装置、第二采集装置及至少一照明光源对应的观测窗。