[实用新型]一种非接触卡芯片测试装置及非接触卡芯片有效
申请号: | 201920836854.1 | 申请日: | 2019-06-04 |
公开(公告)号: | CN209659316U | 公开(公告)日: | 2019-11-19 |
发明(设计)人: | 王光春;曾为民;李向宏 | 申请(专利权)人: | 山东华翼微电子技术股份有限公司 |
主分类号: | H04B17/00 | 分类号: | H04B17/00;G01R31/28;G06K19/077 |
代理公司: | 37105 济南诚智商标专利事务所有限公司 | 代理人: | 王汝银<国际申请>=<国际公布>=<进入 |
地址: | 250101 山东省济南市高新区新*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 双向数字通信 接触式 射频信号发生器 非接触卡芯片 测试机台 射频接口 通用数字 测试装置 申请 传输基带信号 抗干扰能力 测试成本 测试过程 电源信号 接口通信 时钟信号 通信连接 芯片测试 | ||
1.一种非接触卡芯片测试装置,其特征在于,所述测试装置包括:通用数字测试机台、射频信号发生器和设置于非接触卡芯片上的接触式双向数字通信接口,所述通用数字测试机台与所述射频信号发生器连接,所述通用数字测试机台与所述非接触卡芯片的接触式双向数字通信接口通信连接,所述射频信号发生器与所述非接触卡芯片的射频接口通信连接。
2.根据权利要求1所述的一种非接触卡芯片测试装置,其特征在于,所述接触式双向数字通信接口具体包括:设置于所述非接触卡芯片上的输入输出引脚。
3.根据权利要求1所述的一种非接触卡芯片测试装置,其特征在于,所述射频信号发生器的频率与所述非接触卡芯片的工作频率相同。
4.根据权利要求1-3中任一所述的一种非接触卡芯片测试装置,其特征在于,所述通用数字测试机台与所述射频信号发生器之间为通信连接或电连接。
5.一种非接触卡芯片,其特征在于,所述非接触卡芯片中包括:射频接口和接触式双向数字通信接口,所述射频接口用于传输电源信号和时钟信号,所述接触式双向数字通信接口用于传输基带信号。
6.根据权利要求5所述的一种非接触卡芯片,其特征在于,所述非接触卡芯片包括:低频非接触卡芯片、高频非接触卡芯片或者超高频非接触卡芯片。
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