[实用新型]半导体封装结构有效

专利信息
申请号: 201920834726.3 申请日: 2019-06-04
公开(公告)号: CN209804637U 公开(公告)日: 2019-12-17
发明(设计)人: 吕娇;陈彦亨;林正忠 申请(专利权)人: 中芯长电半导体(江阴)有限公司
主分类号: H01L23/31 分类号: H01L23/31;H01L23/528
代理公司: 31219 上海光华专利事务所(普通合伙) 代理人: 史治法
地址: 214437 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 上表面 塑封层 半导体封装结构 电连接结构 重新布线层 翘曲 基底 本实用新型 调整层 牺牲层 塑封 芯片 顶层金属线 塑封材料 下表面 倒装 减小 抵消
【权利要求书】:

1.一种半导体封装结构,其特征在于,所述半导体封装结构包括:

基底;

牺牲层,位于所述基底的上表面;

重新布线层,位于所述牺牲层的上表面;

芯片,倒装合于所述重新布线层的上表面,且与所述重新布线层电连接;

第一电连接结构,位于所述重新布线层的上表面,且与所述重新布线层电连接;

第一塑封层,位于所述重新布线层的上表面,且将所述芯片及所述第一电连接结构塑封;

第二电连接结构,位于所述第一塑封层上,且与所述第一电连接结构电连接;

第二塑封层,位于所述第一塑封层上,且将所述第二电连接结构塑封;

顶层金属线层,位于所述第二塑封层上,且与所述第二电连接结构电连接;

翘曲调整层,位于所述基底的下表面。

2.根据权利要求1所述的半导体封装结构,其特征在于:所述重新布线层包括:

布线介电层,位于所述牺牲层的上表面;

金属叠层结构,位于所述布线介电层内,所述金属叠层结构包括多层间隔排布的金属线层及金属插塞,所述金属插塞位于相邻所述金属线层之间,以将相邻的所述金属线层电连接。

3.根据权利要求2所述的半导体封装结构,其特征在于:所述重新布线层还包括:

种子层,位于所述布线介电层内,且与所述金属叠层结构电连接;

塑封材料层,位于所述布线介电层内,且位于所述种子层的下表面;

底层介电层,位于所述布线介电层的下表面。

4.根据权利要求1所述的半导体封装结构,其特征在于:所述半导体封装结构还包括:

层间介电层,位于所述第一塑封层与所述第二塑封层之间;

再布线金属层,位于所述层间介电层内,且与所述第一电连接结构及所述第二电连接结构电连接。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的半导体封装结构,其特征在于:所述翘曲调整层包括有机材料层。

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