[实用新型]一种具有多层次扫查功能的水浸超声自动检测系统有效

专利信息
申请号: 201920770637.7 申请日: 2019-05-27
公开(公告)号: CN210221905U 公开(公告)日: 2020-03-31
发明(设计)人: 李莹;廉德良;张绪胜;华浩然 申请(专利权)人: 中国科学院金属研究所
主分类号: G01N29/04 分类号: G01N29/04;G01N29/06;G01N29/22;G01N29/26
代理公司: 沈阳晨创科技专利代理有限责任公司 21001 代理人: 张晨
地址: 110015 辽*** 国省代码: 辽宁;21
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 具有 多层次 功能 超声 自动检测 系统
【说明书】:

实用新型提供一种具有多层次扫查功能的水浸超声自动检测系统,包括三轴扫查机构,水槽,可移动水槽架,辊轮扫查器,辊轮扫查架,操作台,探伤仪,电控箱,工控机和显示器;其中,水槽置于可移动水槽架上,位于三轴扫查机构框架内,辊轮扫查器置于辊轮扫查架上,位于可移动水槽架下,操作台位于三轴扫查机构右侧,放置有探伤仪,电控箱,工控机和显示器。其主要特点是采用多层次扫查的方式,水浸箱体为分立结构,每层依据测试需求独立设计使用,大大拓宽了检测适用范围,在同一检测系统中实现了平板状构件、管棒状构件和大尺寸构件的局部C扫描高精度检测。同时该系统维护保养简单,操作测试方便快捷。

技术领域

本实用新型涉及超声无损检测领域,特别提供一种具有多层次扫查功能的水浸超声自动检测系统,可简单、快捷地应用于平板状构件、管棒状构件和大尺寸构件的局部C扫描高精度超声无损检测。

背景技术

超声检测是对各种金属和非金属材料构件缺陷检测和质量评价的重要方法之一。常规接触法超声检测靠超声回波判断是否存在缺陷,对于结构复杂的构件,结构回波和缺陷回波区分难度大,容易造成误判或漏检。水浸超声自动检测与手动接触法检测相比,检测效率高,配合C扫描功能,能够实现成像检测,对复杂结构的构件可有效辨别缺陷回波和结构回波,可直观从C扫描图像中看到缺陷的尺寸、位置和形状,此外检测数据可保存,便于存档和追溯。

同类型的水浸超声检测系统存在的共性问题是扫查机构和水浸箱体为一体式结构,依据检测构件的类型,在水槽内安放水平调节板来检测平板型构件,安装转动装置来检测盘轴类构件或管棒类构件。如果想要同时实现平板状构件和管棒状构件的检测,这种结构存在的问题是:水箱箱体尺寸大,扫查轴距离长。水箱尺寸大,对水箱的机械强度、水循环净化等都附加了制作成本高和难度大的问题。扫查轴距离长,也对直线移动单元的重复定位精度提出了更高的要求。除结构和成本的不利因素外,测试范围也受到了单一水浸箱体尺寸的限制,对大于水浸箱体尺寸的构件的局部扫描就无能为力了。

为解决上述问题,本实用新型提供了一种具有多层次扫查功能的水浸超声自动检测系统。其主要特点是,扫查结构和水浸箱体是独立式结构。水浸箱体有别于通用一体式结构,依据检测构件的结构尺寸独立设计,设置两个或多个独立的水浸箱体,采用分层方式布置,抽拉式移动的方式,实现平板状构件和管棒状构件以及大尺寸构件的局部C扫描高精度检测。

实用新型内容

本实用新型技术方案如下:

一种具有多层次扫查功能的水浸超声自动检测系统,其特征在于:所述自动检测系统包括三轴扫查机构1,水槽2,可移动水槽架3,辊轮扫查器4,辊轮扫查架5,操作台6,探伤仪7,电控箱8,工控机9,显示器10;其中:

三轴扫查机构1设有三轴扫查机构框架11,该框架上设有三轴扫查组件;

可移动水槽架3的一部分或全部位于三轴扫查机构框架11内,水槽2置于可移动水槽架3上,辊轮扫查器4置于辊轮扫查架5上,且位于可移动水槽架3下;

操作台6位于三轴扫查机构1旁边,其上放置有探伤仪7、电控箱8、工控机9和显示器10,探伤仪7与三轴扫查机构1中的探头相连,电控箱8分别与三轴扫查机构1和辊轮扫查器4相连。

作为优选的技术方案:

本实用新型所述三轴扫查机构1由三轴扫查机构框架11和三轴扫查组件组成,所述三轴扫查组件包括X轴运动组件12,Y轴运动组件13,Z轴运动组件14,Z轴延长杆15,探头固定座16;其中,X轴运动组件12由连接件固定在三轴扫查机构框架11上,Y轴运动组件13安装在X轴运动组件12的滑块上,Z轴运动组件14安装在Y轴运动组件13的滑块上,Z轴运动组件14的滑块上连接有Z轴延长杆15,在Z轴延长杆15的末端安装有探头固定座16。

本实用新型所述Y轴运动组件13包括Y轴131,Y轴电机132,限位传感器133,齿形带134,滑块135,滑块连接件136,编码器137;

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院金属研究所,未经中国科学院金属研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201920770637.7/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top