[实用新型]晶片平整度测量仪有效
| 申请号: | 201920740468.2 | 申请日: | 2019-05-22 |
| 公开(公告)号: | CN209764061U | 公开(公告)日: | 2019-12-10 |
| 发明(设计)人: | 郑东;张强 | 申请(专利权)人: | 青岛鑫嘉星电子科技股份有限公司 |
| 主分类号: | G01B21/30 | 分类号: | G01B21/30 |
| 代理公司: | 37212 青岛发思特专利商标代理有限公司 | 代理人: | 巩同海 |
| 地址: | 266114 山东省*** | 国省代码: | 山东;37 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 支撑板 支架 平整度测量仪 本实用新型 可拆卸连接 安装孔 伸缩式 量表 种晶 环境因素影响 加工技术领域 晶片放置区 晶片放置 生产效率 蓝宝石 贯穿 测量 | ||
本实用新型属于蓝宝石加工技术领域,具体的,涉及一种晶片平整度测量仪,包括伸缩式量表、支撑板和支架,所述支架至少为三个,所述支架贯穿支撑板与支撑板可拆卸连接,支架与支撑板的下侧形成有晶片放置区;所述晶片放置区内形成有安装孔,所述伸缩式量表贯穿所述安装孔并与支撑板可拆卸连接。本实用新型提出了一种晶片平整度测量仪,受环境因素影响较小,测量更加准确快捷,节省劳动力,提高生产效率。
技术领域
本实用新型属于蓝宝石加工技术领域,具体的,涉及一种晶片平整度测量仪。
背景技术
在蓝宝石上游加工领域,控制晶片的表面平整度是一个非常重要的环节,目前,一般将晶片粘贴在光滑平整的陶瓷盘上,然后通过研磨、抛光等工序满足下游工序对平整度、粗糙度及表面划痕的要求。在控制平整度的过程中,因晶片粘贴在陶瓷盘上,通常是将陶瓷盘放在光滑平整的大理石上,然后在上方固定一个伸缩式量表进行测量,这种方式受环境影响,大理石表面掉落颗粒或长时间磨损导致测量不准确,同时陶瓷盘需要来回搬动,员工劳动力强度比较大。
实用新型内容
针对现有技术存在的上述缺陷,本实用新型提出了一种晶片平整度测量仪,受环境因素影响较小,测量更加准确快捷,节省劳动力,提高生产效率。
为达到上述目的,本实用新型的晶片平整度测量仪包括伸缩式量表、支撑板和支架;
所述支架至少为三个,所述支架贯穿支撑板与支撑板可拆卸连接,支架与支撑板的下侧形成有晶片放置区;
所述晶片放置区内设置有安装孔,所述伸缩式量表贯穿所述安装孔并与支撑板可拆卸连接。
优选地,所述支撑板上设置有与所述安装孔垂直的固定孔,安装孔与固定孔相贯通,螺杆穿过固定孔将伸缩式量表固定于安装孔内。
优选地,所述支架上套接有支撑螺母和固定螺母;
所述支撑螺母设置于所述支撑板的下端,所述固定螺母设置于所述支撑板的上端。
优选地,所述伸缩式量表的表杆设置有螺纹,所述支撑螺母设置于所述支撑板的下端。
优选地,所述安装孔为多个。
优选地,所述支架的下端为圆球状。
本实用新型的有益效果是:
(1)本实用新型实施例公开的一种晶片平整度测量仪,受环境因素影响较小,测量更加准确快捷,节省劳动力,提高生产效率。
(2)伸缩式量表通过安装孔与支撑板可拆卸连接,可以满足测量不同尺寸的晶片的要求。
(3)支架的下端为圆球状,能够减小接触面积,减少待测量晶片的刮伤。
附图说明
图1为本实用新型的一种结构示意图;
图2为本实用新型支撑板的俯视图;
图3为本实用新型的另一种结构示意图。
附图标记:
1、伸缩式量表;2、支撑板;21、主体;22、第一连接块;23、第二连接块;3、第一支架;4、第二支架;5、第三支架;6、安装孔;7、固定孔。
具体实施方式
以下结合附图对本实用新型的具体实施方式进行详细说明。应当理解的是,此处所描述的具体实施方式仅用于说明和解释本实用新型,并不用于限制本实用新型。
在本实用新型中,在未作相反说明的情况下,在本文中,“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”等仅用于表示相关部分之间的相对位置关系,而非限定这些相关部分的绝对位置。
实施例1
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