[实用新型]一种APD管、PIN管的响应度测试装置

说明书

本实用新型公开了一种APD管、PIN管的响应度测试装置，属于量子保密通信技术领域，该测试装置包括测试电路以及功率计，该测试电路包括控制器、光源模块、光衰减模块、分光器模块、采样模块、高压控制模块、温度控制及采样模块和单光子APD夹具；上述控制器、光源模块、光衰减模块、分光器模块、采样模块、高压控制模块、温度控制及采样模块和单光子APD夹具构成的测试电路能够对APD管和PIN管进行性能测试。本实用新型的测试装置能够自动完成APD管的响应度测试、温度‑响应度曲线测试、偏置电压‑响应度曲线测试以及PIN管的响应度测试、温度‑响应度曲线测试，保障经过测试的APD管、PIN管可靠应用于量子保密通信领域。

技术领域

本实用新型涉及量子保密通信技术领域，具体地说是一种能够自动完成APD管的响应度测试、温度-响应度曲线测试、偏置电压-响应度曲线测试以及PIN管的响应度测试、温度-响应度曲线测试的APD管、PIN管的响应度测试装置。

背景技术

在量子保密通信技术领域中，发射端系统与接收端系统之间的时钟信息同步通常采用同步光实现，它在接收端进行同步光甄别采用APD管或者PIN管实现；另外，发射端为了保障其出口光强稳定通常会对其出口光强进行监控也需要使用PIN管实现。因此， APD管和PIN管是量子保密通信领域中的一个关键的器件之一。APD管或PIN管的响应度与多种因素相关，前者主要受到APD管的反向偏置电压、温度、波长影响以及其器件的耦合度相关，后者主要与温度、波长以及器件的耦合度相关。目前，APD管或PIN管厂商给出的响应度参数为某个特定条件下的典型值（例如，某厂家PIN管给出Responsivity条件Vr=0V,T=25℃，λ=1310nm时，典型值为0.85mA/mW）,没有提供APD管或者PIN管在某个特定波长、偏置电压下的温度-响应度曲线，也没有提供在某个特定波长、特定温度下，偏置电压-响应度曲线。现有的APD管或PIN管响应度测试装置如图1所示，采用该测试装置对APD管或PIN管响应度的测试方案为：在某个特定的环境温度下（例如25℃），电源给APD管或者PIN管提供供电电源，通过光源设备给APD管或者PIN管提供光强，再通过电流源表测试其输出电流，根据光强、电流值可以计算出APD管或者PIN管响应度。该APD管或PIN管的测试方法能够通过给定光强，测试其输出电流准确的计算出某个特定温度下的响应度。在量子保密通信领域中需要了解APD管或者PIN管的温度-响应度曲线以及光强-响应度曲线，现有的测试方法完成上述的测试需要不断的耗费较大的人力完成测试，同时需要较多的设备仪器；另外，对APD管或者PIN管的温度-响应度曲线测试缺乏有效的解决方案。

发明内容

本实用新型的目的是针对现有技术存在的问题，提供一种能够自动完成APD管的响应度测试、温度-响应度曲线测试、偏置电压-响应度曲线测试以及PIN管的响应度测试、温度-响应度曲线测试的APD管、PIN管的响应度测试装置。

本实用新型的目的是通过以下技术方案解决的：

一种APD管、PIN管的响应度测试装置，包括测试电路以及功率计，其特征在于：所述的测试电路包括控制器、光源模块、光衰减模块、分光器模块、采样模块、高压控制模块、温度控制及采样模块和单光子APD夹具；

控制器，用于接收人机交换设备发出的指令并根据接收到的指令生成相应的控制指令，并将所述控制指令发送给对应模块，且能够接收所述对应模块传输来的信息并传输给所述人机交换设备；在控制器上设置有能够与人机交换设备相连接的端口以及多个与对应模块相连接的端口；

光源模块，用于接收所述控制器发出的发光指令并生成窄脉冲激光发射至所述的光衰减模块；

光衰减模块，用于接收所述光源模块发出的窄脉冲激光和接收所述控制器发出的控制指令，并根据所述控制指令将接收到的所述窄脉冲激光衰减生成特定光强的衰减激光；