[实用新型]一种APD管、PIN管的响应度测试装置

权利要求书

1.一种APD管、PIN管的响应度测试装置，包括测试电路以及功率计，其特征在于：所述的测试电路包括控制器、光源模块、光衰减模块、分光器模块、采样模块、高压控制模块、温度控制及采样模块和单光子APD夹具；

控制器，用于接收人机交换设备发出的指令并根据接收到的指令生成相应的控制指令，并将所述控制指令发送给对应模块，且能够接收所述对应模块传输来的信息并传输给所述人机交换设备；在控制器上设置有能够与人机交换设备相连接的端口以及多个与对应模块相连接的端口；

光源模块，用于接收所述控制器发出的发光指令并生成窄脉冲激光发射至所述的光衰减模块；

光衰减模块，用于接收所述光源模块发出的窄脉冲激光和接收所述控制器发出的控制指令，并根据所述控制指令将接收到的所述窄脉冲激光衰减生成特定光强的衰减激光；

分光器模块，用于接收所述特定光强的衰减激光，在所述分光器模块上设置有与所述单光子APD夹具相连接的第一端口，所述第一端口用于输出非单光子状态的衰减激光并将该非单光子状态的衰减激光作为测试光源输送给所述的单光子APD夹具；在分光器模块上设置有与所述功率计相连接的第二端口；

功率计，用于监控所述分光器模块输出的光强是否有变化，并将所述功率计测量的数据传输至人机交换设备，上述监控过程是在APD管和PIN管性能测试时且需要在控制光强不变的状况下进行；

单光子APD夹具，用于放置待测设备；在单光子APD夹具上设置有能够分别与分光器模块、采样模块、高压控制模块、温度控制及采样模块相连接的引脚；

采样模块，用于采样所述单光子APD夹具上的待测设备因加载光而产生的电流信号，并将所述的电流信号变换为数字信号传递给所述控制器；

高压控制模块，用于接收所述控制器发出的指令并根据所述指令向所述单光子APD夹具上的待测设备加载反向偏置电压；

温度控制及采样模块，用于根据所述控制器发出的指令去控制单光子APD夹具上的待测设备的温度、用于对单光子APD夹具上的待测设备的实时温度进行采样并传递给所述控制器；

上述控制器、光源模块、光衰减模块、分光器模块、采样模块、高压控制模块、温度控制及采样模块和单光子APD夹具构成的测试电路能够对APD管和PIN管进行性能测试。

2.根据权利要求1所述的APD管、PIN管的响应度测试装置，其特征在于：所述光源模块包括窄脉冲调节电路、DFB激光器；

窄脉冲调节电路，用于接收所述控制器输出的驱动信号，并生成百ps量级的窄脉冲电流；

DFB激光器，用于接收所述百ps量级的窄脉冲电流并出射窄脉冲激光，在DFB激光器的出射端设有能够与光衰减模块相连接的端口。

3.根据权利要求1或2所述的APD管、PIN管的响应度测试装置，其特征在于：所述的光衰减模块包括：

VOA衰减电路，用于接收所述控制器的控制指令，并根据所述的控制指令生成VOA衰减控制指令；

VOA，用于接收所述光源模块输出的所述窄脉冲激光以及接收所述的VOA衰减控制指令，生成具有特定光强的衰减激光；在VOA上设有能够与分光器模块相连接的输出端口。

4.根据权利要求1所述的APD管、PIN管的响应度测试装置，其特征在于：所述的采样模块包括：

I/V转换电路，用于接收单光子APD夹具上的待测设备因加载光产生的电流信号，并生成模拟电压信号；

ADC采样电路，用于接收所述I/V转换电路输出的所述模拟电压信号，并生成数字电压信号输出给所述控制器。

5.根据权利要求1所述的APD管、PIN管的响应度测试装置，其特征在于：所述的高压控制模块包括：

DAC电路，用于接收所述控制器发出的控制指令并将该指令转化为模拟信号输出；

高压控制电路，用于接收所述DAC电路输出的模拟信号，并根据所述模拟信号向单光子APD夹具上的单光子APD管加载反向偏置电压。

6.根据权利要求1所述的APD管、PIN管的响应度测试装置，其特征在于：所述的反向偏置电压小于待测设备的雪崩电压3～5V。

7.根据权利要求1所述的APD管、PIN管的响应度测试装置，其特征在于：所述的控制器采用可编程芯片或可编程模块。