[实用新型]一种芯片的漏电流检测设备

说明书

本实用新型公开了一种芯片的漏电流检测设备，其结构包括传送带、检测箱、芯片载盘、载台，传送带安装在载台上，检测箱位于载台顶端，检测箱和载台焊接连接，芯片载盘位于传送带上，传送带设有传送带卡槽，芯片载盘与传送带卡槽卡合连接；检测箱设有气管、伸缩臂、液压机、数据传输线、检测结构、检测箱箱体，当遇到大小不同芯片的时候可以让气缸工作控制活塞杆长度使测试针能够与引脚接触。

技术领域

本实用新型涉及芯片检测领域，尤其是涉及到一种芯片的漏电流检测设备。

背景技术

一种芯片的漏电流检测设备是一种检验芯片是否有漏电流的设备。漏电流是由于电容的绝缘介质中不完全的绝缘﹐而是有一定的阻抗﹐故存在损耗现象﹐而在一部份损耗以电流的形式表现出来就是漏电流。科技的发展，集成电路越来越复杂，引脚越来越多、引脚的间距越来越小，现有检测设备检测起来复杂，操作难度大，检测速度慢。

实用新型内容

针对现有技术的不足，本实用新型是通过如下的技术方案来实现：一种芯片的漏电流检测设备，其结构包括传送带、检测箱、芯片载盘、载台，所述传送带安装在载台上，所述检测箱位于载台顶端，所述检测箱和载台焊接连接，所述芯片载盘位于传送带上，所述传送带设有传送带卡槽，所述芯片载盘与传送带卡槽卡合连接；所述检测箱设有气管、伸缩臂、液压机、数据传输线、检测结构、检测箱箱体，所述气管的底端连接检测结构，所述气管与检测结构间隙配合连接，所述伸缩臂设于液压机下方，所述伸缩臂与液压机机械连接，所述液压机设于检测箱箱体上，所述液压机与检测箱箱体焊接连接，所述数据传输线的一端与检测结构连接，所述检测结构设于伸缩臂的底端，所述检测结构与伸缩臂嵌固连接，所述检测箱箱体与载台焊接连接，所述芯片载盘顶面设有两个以上的芯片载槽，这些芯片载槽排成一列，所述芯片载盘地面四角设有芯片载盘凸块。

作为本技术方案的进一步优化，所述检测结构包括双作用气缸、活塞杆、测试针载盘、测试针、密封圈、传感器，所述双作用气缸一端设有活塞杆，所述双作用气缸与活塞杆机械连接，所述活塞杆另一端设有测试针载盘，所述活塞杆和测试针载盘焊接连接，所述测试针载盘设有测试针，所述测试针载盘和测试针卡合连接，所述密封圈设于双作用气缸上，所述传感器设于气缸的底部，所述传感器和气缸螺栓连接。

作为本技术方案的进一步优化，所述气管与密封圈间隙配合。

作为本技术方案的进一步优化，所述芯片载盘凸块与传送带卡槽卡合连接。

作为本技术方案的进一步优化，所述测试针设有五个以上，排成一列。

有益效果

本实用新型一种芯片的漏电流检测设备与现有技术相比具有以下优点：

1、本实用新型当遇到大小不同芯片的时候可以让气缸工作控制活塞杆长度使测试针能够与引脚接触。

2、本实用新型实现了全机械化的漏电流检测，利用芯片载盘可以增加或者减少测试针的多少，解决了对于复杂芯片、多引脚芯片的检测问题。

附图说明

通过阅读参照以下附图对非限制性实施例所作的详细描述，本实用新型的其它特征、目的和优点将会变得更明显：

图1为本实用新型一种芯片的漏电流检测设备的三视图。

图2为本实用新型一种芯片的漏电流检测设备的检测箱前视示意图。

图3为本实用新型一种芯片的漏电流检测设备的检测箱侧视示意图。

图4为本实用新型一种芯片的漏电流检测设备的检测箱伸长俯视示意图。

图5为本实用新型一种芯片的漏电流检测设备的检测箱缩短仰视示意图。

图6为本实用新型一种芯片的漏电流检测设备的载台前视图示意图。