[实用新型]一种新型金相检测用通用接口基座

说明书

本实用新型涉及一种新型金相检测用通用接口基座，属于无损检验范畴，广泛应用于电力与能源领域。本实用新型包括双坐标移动平台，其结构特点在于：还包括可拆卸式支柱，所述双坐标移动平台包括基础层、横向移动层、纵向移动层和平台层，所述基础层安装在可拆卸式支柱上，所述横向移动层安装在基础层上，所述纵向移动层安装在横向移动层上，所述平台层安装在纵向移动层上，所述基础层、横向移动层、纵向移动层和平台层上均设置有插销安装孔。其中可拆卸式立柱采用螺杆与双坐标移动平台连接，螺杆长度15mm,可拆卸式立柱的下部有一调节杆，转动调节杆可以调节立柱的高度，使双坐标移动平台的四脚与检测面平稳接触。

技术领域

本实用新型涉及一种新型金相检测用通用接口基座，属于无损检验范畴，广泛应用于电力与能源领域。

背景技术

现有的现场金相主要分人工打磨、抛光、腐蚀、架设显微镜观察等几个步骤，工序繁琐，为了取得一个理想的金相观察面往往需要打磨较大的平面，对管道尤其是薄壁管道影响较大。同时打磨、抛光的过程为取得一个镜面，需要花费大量的人力，且需要的技巧性很强，需要一定经验的人员方可胜任。即使如此，往往很难将现场金相显微镜镜头垂直安放在打磨抛光的金相界面上，从而造成虚像。

实用新型内容

本实用新型的目的在于克服现有技术中存在的上述不足，而提供一种结构设计合理，够方便的在打磨、抛光系统与现场金相系统进行切换的新型金相检测用通用接口基座。

本实用新型解决上述问题所采用的技术方案是：该新型金相检测用通用接口基座，包括双坐标移动平台，其结构特点在于：还包括可拆卸式支柱，所述双坐标移动平台包括基础层、横向移动层、纵向移动层和平台层，所述基础层安装在可拆卸式支柱上，所述横向移动层安装在基础层上，所述纵向移动层安装在横向移动层上，所述平台层安装在纵向移动层上，所述基础层、横向移动层、纵向移动层和平台层上均设置有插销安装孔。其中可拆卸式立柱采用螺杆与双坐标移动平台连接，螺杆长度15mm, 可拆卸式立柱的下部有一调节杆，转动调节杆可以调节立柱的高度，使双坐标移动平台的四脚与检测面平稳接触。采用卡扣的方式将打磨、抛光系统以及现场金相显微镜系统固定。双坐标移动平台的四角采用插销将其固定，以便于打磨时减少抖动。插销直径为5mm。

进一步地，所述横向移动层滑动安装在基础层上，所述纵向移动层滑动安装在横向移动层上，所述横向移动层和纵向移动层的滑动距离均为0±3mm。

进一步地，所述横向移动层和纵向移动层均通过齿轮驱动滑轨进行滑动。

进一步地，所述双坐标移动平台与四个可拆卸式支柱通过螺柱连接。

进一步地，所述基础层、横向移动层、纵向移动层和平台层上均设置有圆形接口。

进一步地，所述平台层的圆形接口的口径大于纵向移动层的圆形接口的口径，所述纵向移动层的圆形接口的口径等于横向移动层的圆形接口的口径，所述横向移动层的圆形接口的口径大于基础层的圆形接口的口径。

进一步地，所述平台层上设置有T型滑槽。

进一步地，所述插销安装孔内安装有插销。

进一步地，所述插销包括贯穿式长插销和短插销，所述贯穿式长插销和短插销均采用T型滑槽进行固定。

进一步地，在固定打磨、抛光装置时采用贯穿式长插销；在固定金相显微镜时采用短插销或不用插销。