[实用新型]一种新型金相检测用通用接口基座

权利要求书

1.一种新型金相检测用通用接口基座，包括双坐标移动平台，其特征在于：还包括可拆卸式支柱（1），所述双坐标移动平台包括基础层（2）、横向移动层（3）、纵向移动层（4）和平台层（5），所述基础层（2）安装在可拆卸式支柱（1）上，所述横向移动层（3）安装在基础层（2）上，所述纵向移动层（4）安装在横向移动层（3）上，所述平台层（5）安装在纵向移动层（4）上，所述基础层（2）、横向移动层（3）、纵向移动层（4）和平台层（5）上均设置有插销安装孔（6）。

2.根据权利要求1所述的新型金相检测用通用接口基座，其特征在于：所述横向移动层（3）滑动安装在基础层（2）上，所述纵向移动层（4）滑动安装在横向移动层（3）上，所述横向移动层（3）和纵向移动层（4）的滑动距离均为0±3mm。

3.根据权利要求1所述的新型金相检测用通用接口基座，其特征在于：所述横向移动层（3）和纵向移动层（4）均通过齿轮驱动滑轨进行滑动。

4.根据权利要求1所述的新型金相检测用通用接口基座，其特征在于：所述双坐标移动平台与四个可拆卸式支柱（1）通过螺柱连接。

5.根据权利要求1所述的新型金相检测用通用接口基座，其特征在于：所述基础层（2）、横向移动层（3）、纵向移动层（4）和平台层（5）上均设置有圆形接口。

6.根据权利要求5所述的新型金相检测用通用接口基座，其特征在于：所述平台层（5）的圆形接口的口径大于纵向移动层（4）的圆形接口的口径，所述纵向移动层（4）的圆形接口的口径等于横向移动层（3）的圆形接口的口径，所述横向移动层（3）的圆形接口的口径大于基础层（2）的圆形接口的口径。

7.根据权利要求1所述的新型金相检测用通用接口基座，其特征在于：所述平台层（5）上设置有T型滑槽（7）。

8.根据权利要求1所述的新型金相检测用通用接口基座，其特征在于：所述插销安装孔（6）内安装有插销。

9.根据权利要求8所述的新型金相检测用通用接口基座，其特征在于：所述插销包括贯穿式长插销和短插销，所述贯穿式长插销和短插销均采用T型滑槽（7）进行固定。

10.根据权利要求9所述的新型金相检测用通用接口基座，其特征在于：在固定打磨、抛光装置时采用贯穿式长插销；在固定金相显微镜时采用短插销或不用插销。