[实用新型]一种半导体元器件测试装置

权利要求书

1.一种半导体元器件测试装置，包括测试箱体、显示屏、按钮、调节键、元器件放置匣、辅助测试机构以及半导体元器件，其特征在于：所述测试箱体前端面上侧安装有显示屏，所述显示屏下侧安装有按钮，所述按钮左侧装配有调节键，所述测试箱体内部左侧设置有元器件放置匣，所述元器件放置匣内侧放置有半导体元器件，所述元器件放置匣内部设置有辅助测试机构；

所述辅助测试机构包括连接卡条、推动杆、连接板、弹簧、安装架、稳定板、转动环以及扭簧，所述半导体元器件前端面装配有连接卡条，所述连接卡条前端面连接有推动杆，所述推动杆前端面固定有连接板，所述连接卡条前侧安装有安装架，所述安装架与连接板连接处设置有弹簧，所述半导体元器件上端面设置有稳定板，所述稳定板与元器件放置匣连接处安装有转动环，所述转动环内环形侧面装配有扭簧。

2.根据权利要求1所述的一种半导体元器件测试装置，其特征在于：所述推动杆、安装架、连接板以及弹簧构成推动组件，且推动组件设置有两组，两组推动组件规格相同。

3.根据权利要求1所述的一种半导体元器件测试装置，其特征在于：所述元器件放置匣下端面开设有散热孔，且散热孔设置有多个，多个散热孔规格相同。

4.根据权利要求1所述的一种半导体元器件测试装置，其特征在于：所述元器件放置匣内壁开设有方形槽，所述稳定板与方形槽相匹配。

5.根据权利要求1所述的一种半导体元器件测试装置，其特征在于：所述连接卡条左右端面固定有卡块，所述元器件放置匣内壁开设有卡槽，所述卡块与卡槽相匹配。

6.根据权利要求1所述的一种半导体元器件测试装置，其特征在于：所述元器件放置匣左端面固定有拉动柄，且拉动柄外表面套设有软套。