[实用新型]新型防死机上电复位电路

说明书

本实用新型公开了一种新型防死机上电复位电路，包括一主MCU电路模块、连接于主MCU电路模块的一电源掉电检测电路模块、连接于主MCU电路模块的一复位MCU电路模块、及连接于主MCU电路模块与复位MCU电路模块之间的一复位信号整形电路模块，其中，该主MCU电路模块向复位MCU电路模块输出方波信号，且该复位MCU电路模块向复位信号整形电路模块输出方波信号。本实用新型提供的新型防死机上电复位电路，性能稳定可靠，抗干扰能力强，上电复位过程及时快速，避免了死机现象的发生，保证MCU芯片的正常工作。

技术领域

本实用新型涉及集成电路领域，尤其涉及一种新型防死机上电复位电路。

背景技术

集成电路领域许多芯片都包含上电复位电路，上电复位电路的作用是在系统上电和下电时产生复位信号，用于数字复位和各种IP启动等，使模拟和数字模块初始化至已知状态，且使芯片恢复正常工作。

然而，在现有的上电复位电路中，由于原理设计上存在的缺陷，导致性能不稳定，抗干扰能力差，常出现死机现象，芯片无法正常工作。

实用新型内容

针对上述不足，本实用新型的目的在于提供一种新型防死机上电复位电路，性能稳定可靠，抗干扰能力强，上电复位过程及时快速，避免了死机现象的发生，保证MCU芯片的正常工作。

本实用新型为达到上述目的所采用的技术方案是：

一种新型防死机上电复位电路，其特征在于，包括一主MCU电路模块、连接于主MCU电路模块的一电源掉电检测电路模块、连接于主MCU电路模块的一复位MCU电路模块、及连接于主MCU电路模块与复位MCU电路模块之间的一复位信号整形电路模块，其中，该主MCU电路模块向复位MCU电路模块输出方波信号，且该复位MCU电路模块向复位信号整形电路模块输出方波信号。

作为本实用新型的进一步改进，所述主MCU电路模块包括一MCU芯片IC1、电阻R1、电容C1-C5与晶振X1，其中，该MCU芯片IC1的P00/AN0管脚连接至复位MCU电路模块，并向复位MCU电路模块输出方波信号；该MCU芯片IC1的SXIN管脚分别连接至晶振X1一端与电容C1一端，该MCU芯片IC1的SXOUT管脚分别连接至晶振X1另一端与电容C2一端，该电容C1另一端与电容C2另一端连接；该MCU芯片IC1的VDD管脚分别连接至电容C3一端与电容C4一端，该MCU芯片IC1的VSS管脚分别连接至电容C3另一端与电容C4另一端；该MCU芯片IC1的P21管脚连接至电源掉电检测电路模块；该MCU芯片IC1的RST管脚连接至电阻R1一端，该电阻R1另一端分别连接至电容C5与复位信号整形电路模块。

作为本实用新型的进一步改进，所述电源掉电检测电路模块包括电阻R2-R5、电容C6、电容C7与三极管Q1，其中，该三极管Q1的基极分别连接至电阻R4一端与电阻R5一端，该三极管Q1的发射极分别连接至电阻R5另一端与电容C7一端，该三极管Q1的集电极分别连接至电阻R3一端、电容C7另一端与电阻R2一端，该电阻R3另一端连接至电阻R4另一端；该电阻R2另一端分别连接至电容C6与主MCU电路模块。

作为本实用新型的进一步改进，所述复位MCU电路模块包括MCU芯片IC2、电阻R6、电容C8与电容C9，其中，该MCU芯片IC2的P2.2管脚连接至电阻R6一端，该电阻R6另一端分别连接至电容C8与主MCU电路模块，并接收由主MCU电路模块输出的方波信号；该MCU芯片IC2的VDD管脚连接至电容C9；该MCU芯片IC2的P2.0管脚连接至复位信号整形电路模块，并向复位信号整形电路模块输出方波信号。