[实用新型]偏光片精度精密测量盘

说明书

本实用新型公开了一种偏光片精度精密测量盘，包括固定座、上层盘和下层盘，所述上层盘的外轮廓为螺旋线，所述下层盘的外轮廓为标准圆，所述上层盘的最大外轮廓边缘与下层盘的外轮廓边缘位于同一竖直面内，在所述固定座上设置有旋转轴，所述旋转轴依次穿过下层盘和上层盘的中心,所述下层盘和上层盘均能绕旋转轴转动,在所述上层盘的上盘面边缘设置有一圈刻度，该刻度用于显示下层盘的外轮廓和上层盘的外轮廓之间的径向宽度L。结构简单，使用方便，成本低，采用圆盘式设计，避免测量时磕伤偏光片，且读数简单直接，提高测量效率。

技术领域

本实用新型属于测量工具领域，具体涉及一种偏光片精度精密测量盘。

背景技术

在TFT-LCD生产过程中，对偏光片的贴附精度要求较为严格，如果贴附精度过大，会引起屏幕漏光，如果贴附精度过小,会导致背光胶带无法贴附或胶带爬框，贴附精度不合格会严重影响偏光片贴附的良率，造成不必要的损失，因此，必须对偏光片的贴附精度进行检测。

现有的贴附精度测量检测通常采用光学计测仪器或游标卡尺，光学计测仪器有以下不足之处：1、设备结构复杂，造价成本高；2、当偏光片贴附出现滑移或者溢胶时，精度测量结果偏差较大；3、设备调整校正操作复杂，需专业人员维护。游标卡尺有以下不足之处：1、测量过程中容易磕伤到偏光片； 2、测量间距比较小，操作难度大，人员测量误差大；3、游标卡尺属于精密测量仪器，成本高，保管难度大。

发明内容

针对上述技术问题，本实用新型旨在提供一种结构简单，测量方便快捷的偏光片精度精密测量盘。

为此，本实用新型所采用的技术方案为：一种偏光片精度精密测量盘，包括固定座、上层盘和下层盘，所述上层盘的外轮廓为螺旋线，所述下层盘的外轮廓为标准圆，所述上层盘的最大外轮廓边缘与下层盘的外轮廓边缘位于同一竖直面内，在所述固定座上设置有旋转轴，所述旋转轴依次穿过下层盘和上层盘的中心,所述下层盘和上层盘均能绕旋转轴转动,在所述上层盘的上盘面边缘设置有一圈刻度，该刻度用于显示下层盘的外轮廓和上层盘的外轮廓之间的径向宽度L。

作为优选，所述上层盘的螺距为1.8mm，所述下层盘的直径为72mm，所述上层盘的刻度数值范围为0-1.8mm，测量精度为0.01mm。采用以上结构，能够满足偏光片的精度范围要求，且测量误差极小。

作为优选，在所述上层盘的上盘面上刻度数值为0mm的位置设置有辅助球，该辅助球向上凸出上层盘的上盘面。采用以上结构，便于在测量偏光片精度时转动上层盘，使操作更为方便。

作为优选，以所述上层盘的中心为基点，将刻度按一定的比例缩小，设置在上层盘的中部形成备用刻度。采用以上结构，避免刻度磨损不清时，能够使用备用刻度准确读数。

本实用新型的有益效果是：结构简单，使用方便，成本低，采用圆盘式设计，避免测量时磕伤偏光片，且读数简单直接，提高测量效率。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图；

图2为图1的俯视图；

图3为图2的A部放大图；

图4为本实用新型测量时的误差演示图；

图5为误差推导过程中的角度-误差曲线图。

具体实施方式

下面通过实施例并结合附图，对本实用新型作进一步说明：